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실험 5 보고서
실험목표:
□실험을통하여 OR와 XOR의 진리표 결정.
□펄스 파형을 이용하여 OR와 XOR 논리 게이트 테스트.
□OR와 XOR 게이트를 사용하여 4비트 2진수의 1의 보수 또는 2의 보수를 실행하는 회로 구성.
□모의 실험용 결함에 대한 보
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게이트에 NOT 게이트를 직렬로 연결하면 AND 게이트와 같이 된다
3. 세 개의 NAND 게이트를 연결하면 OR 게이트를 얻을 수 있다
Ⅲ. 게이트와 TTL(트랜지스터 트랜지스터 논리회로)게이트
Ⅳ. 게이트와 OR(논리합회로)게이트
Ⅴ. 게이트와 XOR(
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서 표기한다.
XOR 게이트의 논리식은
으로 표기할 수 있으므로 AND, OR, NOT 게이트를 사용하여 XOR 게이트를 구성할 수 있다. 다른 한편 로 표기할 수 있으므로 XOR 게이트는 NAND 게이트만 사용하여 구성 할 수 있다. 또한
로 표기할 수 있으므로 XOR
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논리 게이트 설계, 동국대학교
김성경 외 3명(2010), 새로운 패리티 보존형 가역 논리게이트, 대한전자공학회
김주엽 외 1명(2006), 병렬 SOA-MZI 구조들을 이용한 XOR, NOR, OR, 그리고 NAND 기능들을 가진 전광 복합 논리 게이트들, 대한전자공학회
서
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OR, XOR게이트를 만드는 것과 펄스 파형을 이용해 OR, XOR의 논리게이트를 테스트를 하고 이 두 가지 게이트를 이용해서 4비트 2진수의 1의 보수, 2의 보수를 취하는 회로를 구성하고 결함이 발생하였을 때에 회로의 고장을 진단하는가를 봤다. 일
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