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STM 에서 원자수준의 분해능을 가지게 되는 근본적인 이유이다.
STM의 측정방식
1)Constant high mode
Sample과 tip사이에 동일한 높이가 유지되면서 발생하는 current가 변화
2)Constant current mode
Sample과 tip사이에 동일한 크기의 current가 유지되도록 tip의
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STM(scanning tunneling microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)이 있다.
[그림6] AFM의 구조도
AFM과 STM을 비교해보면 AFM 즉, 원자간력현미경은 주사 터널링 현미경(STM)에서는 전기 도체표면의 원자 상에서 밖에 측정할 수 없었기 때문에 이를 보안하기 위해
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STM(scanning tunneling microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)이 있다.
[그림6] AFM의 구조도
AFM과 STM을 비교해보면 AFM 즉, 원자간력현미경은 주사 터널링 현미경(STM)에서는 전기 도체표면의 원자 상에서 밖에 측정할 수 없었기 때문에 이를 보안하기 위해
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Microscope
1.1 The concept of tunneling
1.2 Scanning Tunneling Microscope
1.3 Electronic Structure at Atomic Structure
2. HOPG Sturcture
2.1 HOPG Sturcture
3. EASY SCAN STM
3.1 Spec of EASY SCAN STM
3.2 Guide of Using EASY SCAN STM
4. EASY SCAN STM Dat
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위하여 시료를 얇게 잘라서 만든 단면을 전자로 투과한 후 형광판에 상을 만드는 것.
SEM
scanning electron microscope(SEM)은 보다 최근에 개발되었으며 TEM과는 다소 다름. TEM
SEM
Atomic force microscope
STM
Principle of STM
Result of research
Summary
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