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scanning tunneling microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)이 있다.
[그림6] AFM의 구조도
AFM과 STM을 비교해보면 AFM 즉, 원자간력현미경은 주사 터널링 현미경(STM)에서는 전기 도체표면의 원자 상에서 밖에 측정할 수 없었기 때문에 이를 보안하기 위해 고
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scanning tunneling microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)이 있다.
[그림6] AFM의 구조도
AFM과 STM을 비교해보면 AFM 즉, 원자간력현미경은 주사 터널링 현미경(STM)에서는 전기 도체표면의 원자 상에서 밖에 측정할 수 없었기 때문에 이를 보안하기 위해 고
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Scanning Tunneling Microscope)
3. AFM(Atomic Force Microscope)
3-1. Contact AFM
3-2. Non-contact AFM
3-3. Intermittent-contact AFM
4. LFM(Lateral Force Microscope)
5. FMM(Force Modulation Microscope)
6. PDM(Phase Detection Microscope)
7. MFM(Magnetic Force Microscope)
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microscopy)과 훑기 꿰뚫기 현미경 측정법 (scanning tunneling microscopy ; STM) 과 같은 방법으로 위에서 논의한 결정구조들을 관찰할 수 있다. 이 6원자배열구조의 직젖적인 영상화에서는 이와같은 장비들에 대하여 간단히 알아보도록 하겠다.
a) 투과전
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microscopy)과 훑기 꿰뚫기 현미경 측정법 (scanning tunneling microscopy ; STM) 과 같은 방법으로 위에서 논의한 결정구조들을 관찰할 수 있다. 이 6원자배열구조의 직젖적인 영상화에서는 이와같은 장비들에 대하여 간단히 알아보도록 하겠다.
a) 투과전
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scanning electron microscope. The voltage at zero current in low electric field is the lowest at 0.3 % OTS treated SiO2 film with hybrid type. SiO2 films changed from inorganic to hybrid or organic properties according to the increase of OTS content. OTS treated SiO2 films with hybrid properties dec
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