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TEM이라는 투과전자현미경으로 SiO Gel의 입자크기와 모양을 관찰할 수 있다. SiO Gel의 입자크기는 반응조건인 용매제와 온도에 따라서 달라짐을 책을 통해 알 수 있었다. 용매제가 isopropanol인 경우에 입자크기가 가장 크고, 그 다음은 EtOH인 경우
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과 안정적인 나노입자 형성을 위해 필수적이다. 이어서, 나노입자의 크기와 분포를 측정하기 위한 장비로는 주사전자현미경(SEM) 및 투과전자현미경(TEM)이 있다. 이들 장비는 나노입자의 형태와 구조를 분석하는 데 필수적이다. 또한, UV-Vis 분
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흡수하는 화학물질의 양을 정량할 수 있으며, 또한 Beer`s law를 통해 흡광도를 측정 가능하다.
- TEM (투과전자현미경)
transmission electron microscope. 투과 전자현미경은 전자현미경의 한 종류로 광원과 광원렌즈 대신에 전자빔과 전자렌즈를 이용한
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구조를 분석하고 싶다면 투과전자현미경(TEM)을 이용한다면 나노사이즈의 격자도 구조분석이 가능하게 된다. TEM은 SEM보다 더 정밀한 기계로 SEM보다 더 확대를 할 수 있다. 1. 실험 날짜
2. 실험 제목
3. 결과 및 분석
4. 토의 및 고찰
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투과전자현비경transmission electron microscope(TEM) 과 주사전자현미경 scanning electron microscope(SEM)을 통해 확인
나노 복합체의 PS를 확인하는 방법
1. IR : B-M-0.03-P
PS와 비교하여 MMT가 포함되어 있는지 확인
(but 양이 작은 관계로 peak가 약함)
2. TEM : B-M-0.03
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전자현미경 분석을 하고, 그리고 그 시편으로 투과 전자현미경 시편을 만들어 투과 전자현미경 분석까지 할 수 있다.
- 특정 영역의 트라이포트 연마기 연마 : 1μm 이하의 정확도로 정해진 한 영역의 단면 시편을 만들어야 할 때 트라이포트
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전자현미경
1) 주사전자 현미경(SEM)
1. 전자총(Electron Gun)
2. 자기렌즈(Condensing&Objective Lens)
3. 진공 챔버(Vaccum Chamber)
4. 시편 홀더(Sample Stage)
5. 검출기(SE Detector)
2) 투과전자현미경(TEM)
다. 원자
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현미경
(1) 명시야면미경
(2) 현미경의 분해능
(3) 암시야현미경
(4) 위상차현미경
(5)차등간섭현미경
(6)형광현미경
3. 시료의 처리와 염색
(1) 고정
(2) 염료와 단순 염색
(3) 분벌 염색법
(4) 특수 구조의 염색
4. 전자현미경
(1) 투과전
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현미경의 배율이 최고 수천 배, 전자현미경(SEM)의 배율이 최고 수십만 배인데 비해 원자현미경의 배율은 최고 수천만 배로서, 개개의 원자를 관찰할 수 있는 분해능 을 가지고 있다. 투과식 전자현미경인 TEM도 수평방향의 분해능은 원자단위
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현미경 (interference microscope)
ㅂ. 암시야현미경 (dark-field microscope)
(2) 전자현미경 (EM,Electron Microscope)
ㄱ. 주사형 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscope)
ㄴ. 투과형 전자현미경 (TEM, transmission electron microscope)
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