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분석 - 배경지식
▣ X선(X-Rays)
X선(X-Rays)의 발견.
X선(X-Rays)의 성질.
X선(X-Rays) 의 발생(Generation)
X선(X-rays)의 흡수(Absorption).
X선(X-Rays)의 산란(Scattering).
X선 회절현상(X-Ray Diffraction)
결정에 의한 회절(Diffraction)
X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
X
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분석 값과 TiN의 문헌 값을 보면 d값은 완벽히 일치하고 상대강도()의 값은 문헌상의 값과 오차율 0.71%이 나오긴 했지만 TiN의 값이 가장 유사한 것으로 나왔다.
5.고찰
본 실험에서는 X-선 회절 현상을 이용한 XRD를 사용하여 TiN를 분석하였다. X선
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분석하기 위한 XRD기법으로는 scan뿐만 아니라 scan의 pole figure법, Rocking curve 도 있다. 본 실험에서는 scan을 사용하는데 이 방법으로 분석 시 박막뿐만 아니라 기판까지의 정보까지 나오게 된다는 단점이 있다. 하지만 사용된 기판이 (100) Si 기판
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물질에
따라 특유하게 다르게 나타난다. 결정물질 구분에 사용됨 CaTiO3
구조적 특징
유전적 특성
물리적 특성
광학적 특성
NiFe2O4
구조적 특징
화학적 특성
NiFe2O4 의 제조법
XRD
정의
XRD분석기 소개
XRD 실험특징
활용분야
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canspeed= 0.2s의 조건으로 상분석을 했다. XRD분석기는 숙련된 연구자분의 도움으로 상분석 하였다.
-4-
4.실 험 결 과
조 성
wight (g)
Pb
Sn
Pb
Sn
1조
100%
0%
50.00g
0g
90%
10%
44.90g
5.04g
81.7%
18.3%
40.08g
9.10g
2조
70%
30%
35.00g
15.05g
60%
40%
30.00g
20.02g
3조
50%
50%
25.05g
2
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분석(XRD)
구리촉매의 XRD pattern은 Fig. 7에 나타냈다. Friedman 등13)은 CuO가 XRD상에 피크로 존재하는 데는 일반적으로 지지체의 표면적과 관련이 있는데, 보통 100m2/g의 표면적을 가진 알루미나에 담지량이 5wt%에서부터 CuO의 대형입자화 (Bulk)된 결
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EM분석, XRD분석, 중금속의 왕수 추출 등 다양한 분석법을 보고 배우며 익혔습니다. 아직은 그 기기의 사용법과 관련 지식에 있어서는 ENF 테크놀로지의 어울리는 인재라고는 힘들다고 생각합니다. 하지만 직접 더 많은 것을 보고 배우며 더 역
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분석 방법을 도입하는 과정이었습니다.
우리는 전통적인 분석 방법인 FTIR(푸리에 변환 적외선 분광법)만을 사용했으나, 새로운 화합물의 특성을 명확하게 구분할 수 없었습니다. 이에 저는 XRD 분석을 추가하여 결정 구조 분석을 통해 기존 분
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분석 및 평가이며, 직접 활용 가능한 연구장비와 SW는 다음과 같습니다.
- 전기화학 분석 장비: Potentiostat/Galvanostat(EIS, CV)
- 물리·화학적 분석 장비: XPS, SEM, XRD
- 데이터 분석 SW: MATLAB, Origin, Python
이러한 역량을 바탕으로, RIST에서 이차전지 소
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세요.
답변: 재료분석 직무에서는 미세구조 분석 능력과 실험 데이터 해석 역량이 중요합니다. 저는 SEM, XRD, EDS 등을 활용한 실험 경험이 있으며, 연구 프로젝트를 통해 다양한 재료의 특성을 분석하고 최적의 소재를 개발하는 경험을 쌓았습
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분석합니다.
- 나노소재 합성 및 특성 분석: 전자현미경(SEM, TEM), X선 회절분석(XRD), 라만 분광법(Raman Spectroscopy) 등을 활용하여 소재의 구조적 특성을 평가합니다.
전기화학적 분석: 전기화학적 임피던스 분광법(EIS), 순환 전압 전류법(CV) 등을
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