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전문지식 1건

MFM
특성을 분석하는 기능을 지닌 종합적인 나노측정기술로 발전하고 있다. <탐침의 형태> SPM장치에서 탐침m 상호 작용력 검충을 위한 광학 기계부, 3차원 나노 스케너, 디지털 전자제어 장치, 소프트웨어로 구성되어 있다. 일반적으로 SPM탐침
MFM, magnetic, microscophy, MFM magnetic, MFM,
  • 페이지 12페이지
  • 가격 2,300원
  • 등록일 2012.11.28
  • 파일종류 한글(hwp)
  • 참고문헌 없음
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