STM의 모든것

목차

-SPM이란?

-SPM의 종류

-STM & AFM

-STM의 등장 및 원리

-STM의 측정방식

본문내용

와 그 다음의 원자와는 약간의 높이 차이를 가진다. 만약 그 차이가 0.1 nm 라면 앞에서 설명한 바와 같이 그들을 통하여 시료로 흐르는 tunneling current 는 약 10배 정도의 차이를 가진다. 다시 설명하면 시료와 탐침 사이에 흐르는 tunneling current는 대부분이 탐침의 가장 끝 부분의 원자를 통하여 흐르고 나머지 극히 일부만이 다른 원자들을 통하여 흐르는 것과 같다. 따라서 곡률반경 수십 nm 이상의 탐침이라고 하더라도 실제로는 단원자로 이루어진 탐침과 거의 같은 효과를 가지게 되며 이것이 결국 STM 에서 원자수준의 분해능을 가지게 되는 근본적인 이유이다.
STM의 측정방식
1)Constant high mode
Sample과 tip사이에 동일한 높이가 유지되면서 발생하는 current가 변화
2)Constant current mode
Sample과 tip사이에 동일한 크기의 current가 유지되도록 tip의 높이가 변화
그림8. Constant high mode 그림9.Constant current mode
참고문헌
- 분석화학기기분석, 신광문화사, 최재성 공저, 2003년, pp241-248.
- 분석화학 8th, 자유아카데미, 분석화학교재연구회, 2004년, pp827-886.
- 표준연구원 측정기술, 1998년 ; http://blog.naver.com/nanomate/110003145585
- http://mulli.kps.or.kr/~net/research/hongbo/7-3/
- http://blog.naver.com/pilest/100004960265

키워드

SPM,   STM,   AFM,   MicroScope,   Probe