목차
1. AAS (atomic absorption spectroscopy)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
1. 감도
2. 검출한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
2. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
(4) 화학적 이동 (Chemical shift)
(5) 정량 분석 (Quantitative analysis)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
1. 감도
2. 검출한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
2. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
(4) 화학적 이동 (Chemical shift)
(5) 정량 분석 (Quantitative analysis)
본문내용
라지는 현상을 의미한다. 원자가 처해 있는 화학적 환경은 형식적 산화 상태(formal oxidation state), 분자의 환경, 격자 자리 등의 차이에 따라 다르다. 이 화학적 이동을 이용하면 원자들의 화학적인 정보를 얻게 되므로 ESCA를 화학 분석에 아주 유용하게 쓸 수 있게 된다.
(5) 정량 분석 (Quantitative analysis)
원소의 시료에서의 단위 부피 당 개수가 많을수록 그 원소로부터 방출되는 광전자의 수도 많을 것이고 따라서 이 광전자가 보이는 특성 광전자 봉우리의 면적도 커지게 된다. 그러므로 특성 광전자 봉우리의 면적으로부터 원소의 표면 농도를 측정할 수 있다. 시료의 표면을 구성하는 원소의 정량 분석을 행하려면 에너지 분석기의 전자 증배관(electron multiplier)에 도달하는 광전자의 개수를 측정해야 한다. 그러나 광전자의 개수는 스펙트럼 상에 나타나는 광전자 봉우리의 넓이에 정비례하지는 않는다. 광전자가 스펙트럼 상에 보이는 광전자 봉우리의 넓이에 관한 표현은 어떤 종류의 에너지 분석기를 쓰는지, 분석기를 어떤 방식으로 쓰는지, 시료와 분석기의 기하학적인 배치를 어떻게 하는지에 따라 달라질 수 있다.
(5) 정량 분석 (Quantitative analysis)
원소의 시료에서의 단위 부피 당 개수가 많을수록 그 원소로부터 방출되는 광전자의 수도 많을 것이고 따라서 이 광전자가 보이는 특성 광전자 봉우리의 면적도 커지게 된다. 그러므로 특성 광전자 봉우리의 면적으로부터 원소의 표면 농도를 측정할 수 있다. 시료의 표면을 구성하는 원소의 정량 분석을 행하려면 에너지 분석기의 전자 증배관(electron multiplier)에 도달하는 광전자의 개수를 측정해야 한다. 그러나 광전자의 개수는 스펙트럼 상에 나타나는 광전자 봉우리의 넓이에 정비례하지는 않는다. 광전자가 스펙트럼 상에 보이는 광전자 봉우리의 넓이에 관한 표현은 어떤 종류의 에너지 분석기를 쓰는지, 분석기를 어떤 방식으로 쓰는지, 시료와 분석기의 기하학적인 배치를 어떻게 하는지에 따라 달라질 수 있다.
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