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na 1.투과전자현미경의 개요
2.투과전자현미경의 발전역사
3.투과전자현미경의 원리
4.투과전자현미경의 구조
5.투과전자현미경의 분해능
6.투과전자현미경의 영상기법과 응용
7.투과전자현미경으로 촬영한 영상
8.시편제작
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전자, 후각 산란전자, X-ray 에 의한 image
4. 결론
1) TEM과 SEM의 비교
전자현미경에는 크게 나누어 투과전자현미경( Transmission Electron Microscope)과 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)으로 구분할 수 있다. 이의 구조상 차이는 광학현미경의 투과
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현미경 [phase contrast microscope, 位相差顯微鏡] 암시야현미경 [dark-field microscope, 暗視野顯微鏡] 투과전자현미경 [transmission electron microscope, 透過電子顯微鏡], 980-1100 1991-2020
김성호, 2005.2.25., 식품위생 미 생물학적 실험편, 172
금동화, 2006.12.20 , 나노
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이다.]
◎ 결론 및 반성 :
- 전자현미경에는 크게 주사전자현미경(SEM : Scanning Electron Microscope)와 투과전자현미경(TEM : Transmission Electron Microscope)가 있다.
- 전자현미경은 광학현미경과는 달리 전자선을 이용하여 물질을 관찰한다.
- 전자현미경의
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투과전자현미경(TEM) (Transmission Electron Microscope)
≪ 사 진 ≫
• 배율: ~ 200만 배
• 시료를 아주 얇게(100nm 이하) 가공하여 전자를 투과시키고 투과된 전자의 양에 따라 형광판에 시료의 내부 구조를 비추어서 확대, 관찰.
• 3 차
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