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분석 - 배경지식
▣ X선(X-Rays)
X선(X-Rays)의 발견.
X선(X-Rays)의 성질.
X선(X-Rays) 의 발생(Generation)
X선(X-rays)의 흡수(Absorption).
X선(X-Rays)의 산란(Scattering).
X선 회절현상(X-Ray Diffraction)
결정에 의한 회절(Diffraction)
X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
X
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분석 값과 TiN의 문헌 값을 보면 d값은 완벽히 일치하고 상대강도()의 값은 문헌상의 값과 오차율 0.71%이 나오긴 했지만 TiN의 값이 가장 유사한 것으로 나왔다.
5.고찰
본 실험에서는 X-선 회절 현상을 이용한 XRD를 사용하여 TiN를 분석하였다. X선
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분석하기 위한 XRD기법으로는 scan뿐만 아니라 scan의 pole figure법, Rocking curve 도 있다. 본 실험에서는 scan을 사용하는데 이 방법으로 분석 시 박막뿐만 아니라 기판까지의 정보까지 나오게 된다는 단점이 있다. 하지만 사용된 기판이 (100) Si 기판
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물질에
따라 특유하게 다르게 나타난다. 결정물질 구분에 사용됨 CaTiO3
구조적 특징
유전적 특성
물리적 특성
광학적 특성
NiFe2O4
구조적 특징
화학적 특성
NiFe2O4 의 제조법
XRD
정의
XRD분석기 소개
XRD 실험특징
활용분야
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nspeed= 0.2s의 조건으로 상분석을 했다. XRD분석기는 숙련된 연구자분의 도움으로 상분석 하였다.
-4-
4.실 험 결 과
조 성
wight (g)
Pb
Sn
Pb
Sn
1조
100%
0%
50.00g
0g
90%
10%
44.90g
5.04g
81.7%
18.3%
40.08g
9.10g
2조
70%
30%
35.00g
15.05g
60%
40%
30.00g
20.02g
3조
50%
50%
25.05g
25.
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