주사전자현미경
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목차

개념
원리
특징......

본문내용

1. SEM의 개요
SEM의 원리
- Electron beam이 Sample의 표면에 주사하면서 Sample과의 상호작용에 의해 발생된 S.E(Secondary Electron)를 이용 Sample의 표면을 관찰하는 장비
- electron beam은 세 개의 Electromagnetic lens에 의해 집속되어 Specimen표면에 도달
- 표면에 도달한 electron beam은 secondary electron 발생 수집된 Secondary electron은 Scintillator에서 Light로 변환되고 이 Light는 Photomultiplier에서 Electric signal로 변화

키워드

원리,   개념,   응용
  • 가격2,000
  • 페이지수13페이지
  • 등록일2010.05.19
  • 저작시기2005.05
  • 파일형식파워포인트(ppt)
  • 자료번호#612420
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