전자회로 실험 JFET특성

소개글

전자회로 실험 JFET특성에 대한 보고서 자료입니다.

목차

016. JFET 특성

017. JFET 바이어스 회로

018. JFET 바이어스 회로 설계

019. 공통 소스 트랜지스터 증폭기

020. 다단 증폭기 (RC 결합)

021. 공통 이미터 증폭기의 주파수 응답

022. 차동 증폭기 회로

023. 선형 연산 증폭기 회로

024. 능동필터회로

025. 비교기 회로 동작

026. A급 및 B급 전력 증폭기

본문내용

수 있듯이 VDS는 거의 영향을 주지 못했고 단일 선으로 대체 가능하다. 곡선의 형태를 예상했지만, 그림 16-4.를 보면 알 수 있듯이 직선의 형태를 띄고 있다. 이것은 VGS의 측정범위가 제한적이었기 때문이다. 다시 말해서, VP값 이상을 취할 수 없는 VGS 범위의 한계 때문에 여러 값들을 취할 수 없게 된 것이다. 때문에 곡선의 형태를 표현하기에는 데이터 량이 부족하다.
이번 실험에서 가장 중요한 수식인 쇼클리 방정식의 특징을 살펴보면 IDSS와 VP는 수학적으로 보면 상수형태로 실험 시에도 이 값을 먼저 결정하였다. VGS를 바이어스 함에 따라 ID값이 변하므로 이 둘을 변수라고 결론지을 수 있다.
오차의 원인은 동종의 트랜지스터사이에서 발생하는 값들의 차이, 저항의 허용오차, 계측기의 오차이다. 또 이들 세 가지 오차의 복합적인 연쇄효과도 무시 할 수 없는 부분이다.
다소 오차가 발생한 실험이었지만, 측정값과 쇼클리 방정식을 이용하여 특성 곡선의 형태를 알아보고, ID=0mA를 초래하는 VGS 값은 VP에 가까운 값이라는 이론적 내용과 VDS가 특성곡선에 큰 영향을 주지 않는 다는 사실 등, 이론적인 내용을 알아보기에는 충분한 실험이었다.

키워드

전기전자기초실험,   전자회로실험,   JFET특성,   예비레포트,   결과레포트