광학 기기의 부분 장치 조사 및 요약

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본문내용

주위에서 오는 열적인 잡음이 혼합되어 있기 때문에 보통 진공 상자 안에 설치한다.
구리와 같은 한 금속의 두 조각을 다른 금속의 각 끝에 용접하여 만들어지는 한 쌍의 접촉으로 이루어져 있다.
두 개의 접촉 사이에서 나타나는 전위차는 이 두 접촉의 온도차에 따라 변한다.
7E -3.a 열전기쌍 검출기
7F 신호처리장치와 판독장치
검출기에서 나오는 전기신호를 증폭한다.
DC 신호 AC 신호
원하지 않는 성분을 거른다.
7G 섬유광학
7G -1 광섬유의 성질
수백 미터 이상 복사선을 통과시킬 수 있는 유리 또는 플라스틱의 선다발로 되어 있다. 가열하지 않고 물체에 빛을 비추는 데 사용된다.
적당한 재료를 선택하면 자외선, 가시선 및 적외복사선을 전송시킬 수 있는 광섬유를 만들 수 있으며 이는 광섬유 감지기에서 사용된다.
7H 광학기기의 형태
분광기 : 원자방출선을 사람의 눈으로 확인할 수 있게 만든 광학기기
비색계 : 사람의 눈이 검출기로서 작용되는 흡수측정기기를 가르킬 때 사용된다.
분광사진기 : 슬릿 배열 대신 분산된 복사선의 전체 스펙트럼에 연속적으로 노출되어 있는 검출기가 구멍으로 대체된 단색화장치
7I Fourier 변환 광학측정의 원리
7I -1. Fourier 변환 분광법의 본질적 이점
산출량 이점 : 복사선의 세기를 감소시키지 않는다.
매우 높은 분해능, 파장재현성 : 매우 많은 좁은 선들을 겹치게 해서 복잡한 스펙트럼을 분석할 수 있게 한다.
7I -2. 시간함수 분광법
일반적인 분광법(주파수함수 분광법) : 복사선의 세기를 복사선의 주파수 또는 이와 역 수관계인 파장의 함수로서 기록한다.
시간함수 분광법 : 시간에 따른 복사선의 변화관계를 나타낸다.
(주파수함수 분광법과 시간함수 분광법의 차이)
7I -3. Michelson 간섭계를 이용하여 시간함수 스펙트럼 얻기
시간함수 스펙트럼은 매우 큰 주파수를 가지고 있어 그 세기 변화에 응답하는 변환기가 존재하지 않다. 그러므로 복사선의 영역에서 실험적으로 스펙트럼을 얻을 수 없다.
Michelson 간섭계는 신호를 나르는 시간 관계를 일그러뜨리지 않고, 큰 주파수 신호를 측정 가능한 주파수로 변환 시키는 방법이다.
신호변조법은 각 파장 영역마다 다르나 주로 광학영역의 복사선을 변화시키는 방법으로 Michelson 간섭계가 사용된다.
(시간 함수 스펙트럼 : 큰 주파수를 가지고 있어 신호변조법을 이용해야 한다.)

키워드

광학 기기의 부분 장치 조사 및 요약,   복사선광원,   시료용기