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오실로스코프, 함수발생기 사용법을 익혔다. 또 Mesh-current와 옴의 법칙, 키르히호프의 법칙 등에 대한 이해도가 높아졌다.
4. 레퍼런스
- 일반물리학/Hallday/범한서적주식회사/p 874~879 1. 관련이론
2. 실험 결과
3. 결론 및 토의
4. 레퍼런스
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- 회로이론 / Nilsson / PEARSON / p.662∼673
- 회로이론 / 최규식, 장윤승 공저 / 인터비전 / p.354 ∼356
- 그림으로 쉽게 배우는 회로이론 / 저자 신윤기 / 도서출판 인터비젼 / p.332 ～ 333 1. 관련이론
2. 실험결과
3. 결론 및 토의
4. 레퍼런스
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의한 계산값
이론값
θ
1[㎑]
=62
=162
1
2[㎑]
5[㎑]
10[㎑]
20[㎑]
30[㎑]
60[㎑]
100[㎑]
RLC병렬회로이므로 이고
주파수와 상관없이
또한, 차단주파수는 RLC직렬회로와 동치이다. 1. 실험 목적
2. 실험 준비물
3. 기초 이론
4. 실험 진행방법
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특성이 나타나는가를 확인한다.
(3) 그림 10-2 회로에 함수발생기를 사용하여 정현파를 입력하고 그림 10-6과 같은 위상 지연이 나타나는가를 확인하라. 이론값과 비교하라. 1. 실험 목적
2. 실험 준비물
3. 기초 이론
4. 실험 진행방법
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을 계산하여 <표 11-2>에 기록하라.
(5) 위의 실험을 로 하여 반복하시오.
그림 11-3 RL 회로 위상지연 실험
[표11-2]
측정값
계산값
V
I
θ
Z
R
abs(Z)
θ
1001.97Ω
1kΩ
62.83Ω
3.595° 1. 실험 목적
2. 실험 준비물
3. 기초 이론
4. 실험 진행방법
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실험적으로 그 특성을 확인한다.
2. 실험 준비물
‣ 오실로스코프 1대
‣ 함수 발생기 (Function Generator) 1대
‣ 저항 1kῼ, 10kῼ 각각 1개씩
‣ 커패시터 10[μF], 100[μF] 1개
3. 기초이론
1) 시스템과 RC회로
그림 10-1은 R(저
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실험에 큰 영향을 주지는 않았다. 그리고 두 번째로는 기기들과 회로의 정확하지 못했던 접촉 때문에 발생한 오차이다. 실험을 하면서 멀티미터로 전류를 측정하거나 전압을 측정할 때 같은 회로임에도 불구하고 측정할 때마다 값이 계속 바
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실험에 큰 영향을 주지는 않았다. 그리고 두 번째로는 기기들과 회로의 정확하지 못했던 접촉 때문에 발생한 오차이다. 예를 들면 실험을 하면서 멀티미터로 전류를 측정할 때 같은 회로임에도 불구하고 측정할 때마다 값이 계속 바뀌었고,
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회로실험 내내 일정한 오차가 작용했다는 것을 알 수 있다.
- 가역 정리
=> (그 림7-5) 회로의 단자 A, B의 전압을 2V, 4V, 6V로 변환시키면서 멀티미터를 이용하여C, D에서의 전류를 측정하였다.
<전압에 따른 전류>
전압
흐르는 전류(mA)
이론
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한다. 칩자체의 문제로 인하여 측정값이 일정하게 나온 것 같다.
4. 레퍼런스
- 회로이론 / Nilsson / PEARSON / p.670∼695
- 그림으로 쉽게 배우는 회로이론 / 인터비젼 / 신융기 / p.326 ～ 327 1. 관련이론
2. 실험결과
3. 결론 및 토의
4. 레퍼런스
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