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회로 실험, 강경일
- 회로이론, 정타관, 1993년
- ynucc.yeungnam.ac.kr/~yssuh/Analog
- home.cmh.hs.kr/~choys/elec
- my.netian.com/~twssd/8051a/dac.htm Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
1. DAC의 종류 및 특성
2. DAC의 parameter
3. R-2R Ladder Type DAC
4. 필요한 기초지식
5. 제작한
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교류적인 이득은 보상을 시킬 수 있습니다.
BJT와 JFET의 비교
3. JFET 공통 소스 증폭기 P-spice 시뮬레이션 수행 결과
회로도 )
시뮬레이션 결과 ) 1. 목적
2. 이론
3. JFET 공통 소스 증폭기 P-spice 시뮬레이션 수행 결과
4. 시뮬레이션 결과
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실험 결과에 관한 고찰
▶실험 1에서는 전류의 변화로 생기는 유도전압의 변화를 알 수 있다.
전류 값을 증가시킴에 따라서 유도전압도 그에 비례해서 증가한다.
즉, 전류 ∝ 유도전압
▶실험 2에서는 교류전류의 진동수를 변화시킴에 따라 생
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실험의 목적은 오실로스코프, 함수발생기, DMM의 사용법을 익히는 것이다.
이 실험을 통해서 수평감도가 높아질수록 파형의 나타나는 주기가 짧아지고 수직감도가 높아질수록 파형의 나타나는 진폭은 커지지만 실제의 주기와 Vp-p값은 변하지
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회로설계 CAD 소프트웨어 및 계측장비 활용능력을 키움으로써 관련 분야의 진학 및 취업에 도움이 될 것으로 기대
양방향 통신 시스템, GPS 응용 장치, 원격 sensing 및 환경감시 시스템, RFID(전자태그), Smart Home 등을 들 수 있다. 과제 수행 현
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회로망(frequency-selective network)과 positive-feedback amp를 사용하는 방법과 주파수 선택 회로망을 사용하지 않는 방법이다.
2.구형파, 삼각파 발생기
구형파, 삼각파, 펄스파 등을 발생시키는 회로들은 비선형 발진기 또는 함수 발생기(Function generator)
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회로 IL" 난에 기록하시오.
7) 부하저항 RL의 값을 표 1과 같이 바꾸어서, "원래회로 IL"과 "등가회로 IL"을 측정하여 비교하시오.
그림 5. Thevenin 등가 회로를 확인하는 실험회로. (a) 원래 회로, (b) 등가회로.
(2) Norton 등가회로
1) 저항 1∼2의 저항값
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기초회로 실험에서는 XY모드로 실험을 하긴 했지만 그때에는 화면에 점이 이동하는 속도를 보면서 정현파와 구형파, 삼각파의 성질을 알아보는 실험이었기 때문에 위상차를 구할 수 있는지의 여부는 알지 못했다. 아마 오실로스코프로 각 파
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측정한 결과이다. 측정결과 병렬연결 했을 때보다 직렬연결을 했을 때 일어나는 전압강하가 더 크게 측정되었다. - 실험 목적
- 실험 재료 및 실습 사용기기
◎실험을 위한 기초이론
● 실험회로도
● 실험결과 및 고찰
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회로에서 보듯이 Vref의 값인 3V가 출력된다.
11-6 테브난, 노턴 등가회로
(1) 실험회로
□ 회로개요
임의의 한 회로에 대해 테브난 등가회로와 노턴 등가회로를 동시에 구성하여 동일한 부하에 대한 결과치가 같음을 보기 위한 회로이다.
□ 회로
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