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측정
①
②
③
4) 위상 변화 측정
① 저항
② 축전기
※참고자료
PHYSICS : Calculus, EUGENE HECHT 원저, 물리학교재편찬위원회 역, 청문각, 2006
전자 회로 실습, 이계호 이상종 공저, 일진사, 1979
제 7판 물리학 실험, 아주대학교 물리학실험실, 아주대
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일반물리학 교재편찬위원회 역(2010), 일반물리학, 북스힐 Ⅰ. 전압의 개요
Ⅱ. 전압과 배전압
1. 2배전압회로
2. 3배전압회로와 4배전압회로
Ⅲ. 전압과 직류고전압
1. 전지
2. 직류고압발전기
3. 변압기와 정류기를 조합한 장치
4. 정
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측정값이 이상하게 나왔는데, 확인 결과 빵판 내의 연결이 불안정했던 것이 이유였다.)
④ 이론값을 구하는데 계산착오나, 계산기를 쓰는 도중의 실수도 오차의 원인이다.
7.참고문헌 : 일반물리학 실험 1. 실험 제목 : Kirchhoff의 법칙
2.
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실험” 7~10p
2. 양성봉, 이주연 “유기화학실험” 65~69p LIST OF CONTENTS Ⅰ
LIST OF TABLES Ⅱ
LIST OF FIGURES Ⅲ
ABSTRACT
1. INTRODUCTION
1.1 실험목적
1.2 실험이론
1.3 실험주의사항
1.4 실험물리상수
2. EXPERIMENTAL
2.1 기구 및 시약
2.2 실
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Properties of solutions, Freezing-point depression.
2) 일반화학 홈페이지, http://chem1.snu.ac.kr/~chemlab/exp/exp4.htm
3) 텍스트 화학, 김영순심국석김대수, 디딤돌, 2001, p 38, 328-330
4) http://chem.skku.ac.kr/~wiki/main/물리화학실험자료/어는점_내림과_분자량_결정.hwp
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측정한 각도와 평균 그리고 계산 결과를 기록한다.
\\ 미끄러질 때 최대정지 마찰계수에서 편차는 측정한 미끄러진 각에서 계산한 마찰계수 - 마찰계수 평균값으로 계산해서 기록을 한다.
참고문헌: 일반물리학 실험(김원태, 장편우, 염태호,
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실험과정(Dual-Trace 해석방법 이용한 페이져 각 측정)을 통해 직접 증명하는 과정은 평소 아무 생각 없이 외우고 사용하던 식의 의미와 원리를 이해하는데 많은 도움이 된 것 같다. < 목 적 >
< Part 1 Series R-L Circuit >
< Part 2 Series R-C Circuit >
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C)
스프링후크상수(K)
비틀림 상수(K) 1. 직류회로
2. 정현파 교류
3. 기본 교류 회로
4. 결합회로
5. 회로망 해석
6. 다상교류
7. 대칭좌표법
8. 비정현파(왜형파)
9. 2단자망 및 4단자망
10. 분포정수 회로
11. 과도현상
12. 라플라스 변환
13
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회로의 등가저항값과 (5)~(6)의 과정에 의하여 얻은 실험치를 비교한다.
식 (5) :
(10) 식 (8)에 의하여 계산된 병렬회로의 등가저항값과 (7)~(8)의 과정에서 얻은 실험치를 비교한다.
식 (8) :
5. 참고문헌
[1] 대학물리학, 인하대학교출판부, 김기식
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측정하고 실험과정(Dual-Trace 해석방법 이용한 페이져 각 측정)을 통해 직접 증명하는 과정은 평소 아무 생각 없이 외우고 사용하던 식의 의미와 원리를 이해하는데 많은 도움이 된 것 같다. < Part 1 R-L Parallel Network >
< Part 2 R-C Parallel Network >
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