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실험에서 입력 임피던스는 중요한 개념이다. 입력 임피던스는 회로의 입력端에서 전압 분배기 또는 다른 회로소자의 전압을 측정할 때, 측정 장치가 회로에 미치는 영향을 나타낸다. 일반적으로 전압 분배기 회로는 여러 저항을 직렬로 연결
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실험 방법
디지털 실험장치 위에 IC 7408과 IC 7486을 이용해서 회로도 (a)의 반가산기를 구성하고 스위치를 변화시켜가며 Sum과 Carry C를 측정
IC 7408과 IC 7486을 이용해서 회로도 (b)의 전가산기를 구성하고 스위치를 변화시켜가며 Sum과 Carry C를 측
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러스 15카운터 회로를 구성하라.
modulus n 카운터 의 작동
5 MODULUS COUNTER의 작동
J0=KO=Q'3
J1=K1=Q0
J2=Q1Q0 K2=Q2
(4) 모듈러스 13 카운터 회로를 구성하라.
13진 카운터
<참고 문헌>
- 디지털 논리 회로 분석과 설계 p 481 ~
- 디지털 공학 실험
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회로의 주파수 응답 특성을 충분히 이해해야 한다. 실험 결과, 적분 회로의 출력 신호는 입력 신호의 크기와 형태에 따라 다르게 나타나며, 출력의 크기는 입력 신호의 평균값에 비례함을 알 수 있었다. 이로 인해 적분 회로는 신호의 일반적
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측정하고 전류계로 회로에 흐르는 전류
I_1
을 읽어 표에 기록한다.
(4)
ab
사이의 저항을
R_2 (150 OMEGA),R_3 (200 OMEGA)
으로 바꾸어가면서 (3)의 과정을 반 복한다.
(5) 표 1의 측정치로부터 임피던스
Z
와 위상차
PHI
를 계산한다. 1. 실험 목적
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일반적인 온도 측정 및 제어장치
1) 온도 측정 및 제어장치의 구성
Fig. 26 온도 측정 및 제어장치
Fig. 27 Temperature controller Fig. 28 누전차단기
Fig. 29 Power 공급장치 Fig. 30 Thermocouple
2) 온도 측정 및 제어장치의 회로도
Fig. 31 온도 측정 및 제어장
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c의 왜곡이 일어날 때
-> υc의 왜곡이 일어날 때, υb, υi 측정
->양극과 음극 피크 값의 왜곡이 발생할 때, υc와 υi
->양극과 음극 피크 값의 왜곡이 발생할 때, υb와 υi
5. Conclusion & Evaluation
-> 이번실험을 하면서 BJT의 특성을 잘 알게 되
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정하여 표 5-3에 기록한다.
⑥ 그림 5-6 (b)와 같이 회로를 연결하고 회로에 지시된 전류를 측정하여 표 5-3에 기록한다. 100㎃ 전류원을 만드는 방법은 실험 6. 테브난 정리 실험 순서 ⑧을 참조하시오.
⑦ 그림 5-6 (c)와 같이 회로를 연결하고, 회로
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측정하여 기록하라.
⑤을 조정하여 새로운 파형이 기준파형보다 오른쪽으로이동하도록 하라.
이때의 파형과 진폭을 측정하여 기록하라. 브리지위상편이 실험을 위하여 그대로 둔다.
(3) 브리지위상편이회로실험
① 오실로스코프의 접지를 C
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측정하는 것은 불가능하며 단지 입자의 가능한 운동을 입증할 수 있을뿐이다. 비결정론은 영원히 예측할 수 없는 물리적 사건의 존재를 의미하는데, 양자론의 비결정론은 실험적인 능력이 아니라 무엇을 알 수 있고 무엇을 알 수 없는지의 원
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