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회로의 DC 파라미터를 계산하고, 측정하여 기록한다.
파라미터
계산값
측정값
%오차
IB
430uA
404uA
6%
IC
86mA
66mA
23%
IE
86.4mA
65mA
24%
VBE
0.7V
0.7V
0%
VCE
1.4V
3.5V
150%
VCB
0.7V
2.7V
230%
7. 참고문헌
전자회로실험 P.44~49
데이터 시트 검색엔진 https://www.alldatasheet.c
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연결된듯한 결과가 나오는 데에 있다. 저항이 높아지게 되면, 원래 인덕터에 병렬로 콘덴서가 연결된 것과같은 현상이 나지만, 저항이 낮을 땐 그것이 잘 드러나지 않다가 저항값이 높아지게 되면 전류 분배 등이 달라지게 되어 파형이 측정
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RL회로에서는 주파수 값이 증가할수록 magnitude와 Phase 값도 증가하는 것을 볼 수있다. 표시되지 않은 실험을 통하여 인덕터에 걸리는 전 1. 실험목표
2. 기본이론
3. 사용기기와 부품
4. 실험내용과 방법
5. 데이터 분석 및 결과
6.
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회로도도 똑같았는데도 우리 조는 정상적인 파형이 나오지 않는 것으로 보아, 제대로 나오지 않은 원인으로는 브래드 보드의 불확실성과, 오실로스코프의 연결선의 불확실성, 그리고 저항의 오차범위와 마모, 불확실성 등으로 결론 내렸습니
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회로에 함께 설계를 해야 한다. 인버터를 설계는 먼저 단상 인버터를 설계하였고, 그 다음에 3상인버터를 RL소자와 연결하여 설계하여 3상전류가 흐르는 것을 확인하였다. 이 때 인버터 소자의 스위칭을 제어하는데 히스테리리스 PWM방식을 이
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회로에 직류전원전압 E=5[V] 로 하는 회로를 구성하여라.
(2) 그림 18-9에서 커패시터C에서의 충전전압 와 회로에 흐르는 전류 의 값을 식 (18.3), (18.4)를 적용하여 표 18-1의 시간 t에 대해서 구하고 표 18-1에 기록하여라.
(3) 그림 18-9의 R-C직렬회로의
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어쩔 수 없이 약간 낮은 샘플링 속도로 전압을 측정했던 점도 오차의 원인이라고 생각된다.
3. 참고문헌
연세대 물리실험실(http://phylab.yonsei.ac.kr/) 1. 데이터 분석
1) 실험 결과
(1) RC 회로
(2) RL 회로
2) 질문
2. 토의
3. 참고문헌
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직렬처리 및 병렬처리 방식
1. 직렬처리방식(Serial Processing)
2. 병렬처리 방식(Parallel Processing)
Ⅳ. 직렬처리 방식에 대한 병렬처리 방식의 특징
1. 병렬처리 시스템의 개요 및 발전단계
2. 병렬처리 시스템의 분류
3. 직렬처리방
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(2)커패시터의 물리적 특성
(3)커패시터의 종류
(4)고정 콘덴서의 판별법
(5)가변 콘덴서
(6)콘덴서의 온도 특성 보상
3. 직렬 커패시터
(1) 직렬 커패시턴스의 합성
(2) 직렬 커패시터의 전압
4. 병렬 커패시터
5.커패시터의 전력
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직렬 및 병렬 형의 조정 장치라 한다.
2) 로직 프로브
논리 수준을 논리 분석기나 논리 스코프에 필요한 장비 없이 바로 읽어낼 수 있도록 고안된 논리 시험 기구이다.
3) 브레드 보드(또는 디지털 실험 장치)
속칭 빵판 또는 빵틀로 전자회로의
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