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실험장비
a. 오실로스코프 1대
b. 함수 발생기 1대
c. 저항 1kΩ, 10kΩ 각각 1개씩
d. 커패시터 10[μF], 100[μF] 1개
4. 실험 진행
(1) [시정수 측정] 아래 그림과 같이 회로를 구성하고 커패시터를 10[V]로 충전 후 연결선을 저항에 연결하라. 오실로스
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측정하였다. 다음으로 RL을 바꾸어 가며 총 세 번의 측정을 하였다.
실험의 결과와 오차는 다음과 같이 나왔다.
VTH(V)
RTH(Ω)
IL(mA)
RL(Ω)
측정치
계산치
오차
(%)
측정치
계산치
오차
(%)
측정치
계산치
원회로와 계산치의
오차
(%)
원회로
태브냉
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. 그리고 RL을 바꾸어 가면서 총 세 번의 실험을 했다. 이번엔 RL을 단락시키고 그 branch에 흐르는 전류(IN)를 측정하였다. 또 전압원까지 단락시킨 후 등가 저항을 측정했다. 마지막으로 노턴 등가회로 칸에는 측정치를 이용하여 IL을 계산한 값
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주파수를 5Hz, 1Hz 씩 변화시켜가며 다시 측정하고 노트패드를 편집하면 최대값 부근(공명점)에서 더욱 조밀한 그래프를 얻을 수 있을 것이다.
⑤ 실험이 끝나면 노트패드에 적혀있는 데이터를 적당한 이름으로 저장한다.
⑥ 다시, 데이터스튜
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측정 공의 위치의 실험값을 샘플링 한다. 클릭할 때마다 데이터가 기록되고 동시에 샘플링 점으로도 표시될 것이다.이 결과를 “Quadratic"함수로 Curve Fitting한다. Logger Pro 주 화면의 왼쪽 위 메뉴바의 “Analyze” → "Curve Fitting" → "VideoAnalysis/Y"
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실험 방법의 위의 R-L 회로 실험과 같은 절차를 거친다.
▶ R - L - C 회로
⑪ 적당한 저항 팩, 코일 팩, 콘덴서 팩을 명판의 위치에 부착, 연결한다.
⑫ R - L 회로 실험과 같은 방법으로, 전압을 측정할 때 각각의 소자에 걸리는 전압을 모두 측정해
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실험은 컴퓨터와 전기기초 실험 장치를 이용하여 일정한 전류를 흘려주면서 저항을 변화 시켰을 때, 함께 변하는 전압의 세기를 측정하는 실험이었다. 실험 결과로 얻은 전압 값들과 이론적인 계산을 통하여 얻은 전압 값을 비교해 봄으 로서
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의 지름을 나타낸다.
5. 실험 장비
본 실험에 사용될 광탄성 실험장치는 그림1의 (가)투과형 광탄성 실험 장치이며, 구성은 그림2와 같다.
그림 2 투과형 광탄성 실험장치의 구성
6. 실험 방법
▶ 광탄성 감도의 측정
(1) 에폭시 판재를 이용하여
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⑤ 추걸이를 달지 않은 나무토막을 경사면에 올려 놓고 경사각 θ를 조금씩 증가시켜가면 서 미끄러져 내리기 시작하는 각을 측정하여 정지 마찰계수를 구한다. 1. 실험제목
2. 실험목적
3. 이론
4. 기구 및 장치
5. 실험 방법
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측정점 온도가 정상상태에 도달할 때까지 기다린다.
(10) 시간별로 확인하여 더 이상 온도변화가 없는 정상상태에 도달하면 절환 온도지시기를 써서 각 점의 온도를 측정한다.
(11) 측정치를 기입한다.
(12) 측정치로부터 시편의 열전도계수 k
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