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2.Subject
간섭현미경
3.Object
간섭현미경을 이용하여 X시편 표면 거칠기 측정
4.Introduction
간섭현미경의 원리-물체가 빛을 지연시키는 현상을 이용하여, 표본을 투과한 물체광에 광원에서 분리된 간섭광을 겹치게 하여 광파장에 대한 간섭현상으
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간섭현미경
간섭현미경에서는 조직을 투과한 빛에 조직을 통과하지 않는 별도의 빛을 투사시킴으로써 조직을 투과한 빛이 간섭받도록 하고 있어 조직표본을 통과한 회절광에 따라 상이 다르게 나타난다. 이 현미경으로는 살아 있는 세포나
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현미경(phase contrast microscope)
굴절률의 차이를 이용하여 표본(시료)를 관찰하는 방법으로 염색되지 않은 살아있는 세포를 관찰하는데 유용하나 굴절률이 낮은 일반 염색된 시료에는 부적합하다.
간섭현미경(interference microscope)
물체가 빛을
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현미경의 종류
1) 광학현미경
* 일반광학현미경
* 위상차현미경
* 간섭현미경
* 암시야현미경
* 편광현미경
* 형광현미경
2) 전자현미경
* 주사전자현미경(SEM)
* 투과전자현미경(TEM)
3) 원자현미경
2. 주
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현미경이라고 할 때는 광학 현미경을 가리키며, 본 실험에서도 이를 사용한다. 종류에는 보통현미경•자외선현미경•적외선현미경•형광현미경•암시야현미경•위상차현미경•편광현미경•간섭현미경 등이 있다. 현
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