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현미경의 종류
1) 광학현미경
* 일반광학현미경
* 위상차현미경
* 간섭현미경
* 암시야현미경
* 편광현미경
* 형광현미경
2) 전자현미경
* 주사전자현미경(SEM)
* 투과전자현미경(TEM)
3) 원자현미경
2. 주
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전자 신호만으로 상
형성이 되는 것이 아니고, 시료 내부의 정보를 가진 전자도 포함되어 있다. 또한 파장이 짧
은 전자선을 이용하였기 때문에 광학 현미경에 비해서 훨씬 높은 배율의 측정이 가능하다.
3. Reference
주사전자현미경(SEM) 개론,
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SEM은 depth of field가 대단히 깊어서 높낮이가 큰 대상물을 관찰할 수 있다. Depth of field뒤에 나올 슬라이드에서 설명하겠지만 간단히 말하면 관찰 대상물의 확대 영상에서 초점이 맞는 깊이 범위를 말한다. 즉, 주사전자현미경에서의 depth of field
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현미경은 시편 준비가 비교적 간단하며, 현미경을 조작하기가 용이하다는 장점이 있고 배율 X 2,000 이하의 이미지를 얻을 수 있다. 일반적으로 사용되는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy, SEM)은 배율 X 100,000 이하의 고배율 이미지를 얻을
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현미경) 원리
4. PBF 프린팅
5. 분말 시험
6. 주조 정의 및 종류, 그리고 주형 재료(사형주조, 금형 주조 등등)
(주물용 모래, 첨가제, 도형제, 이형제
7. 주물사 시험법 - (수분 측정, 점토분, 입도, 통기도, 강도, 표면경도) 이렇게 6가지에 대해서 조
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