|
SEM
Introduction
OM vs SEM
Principle
Instrument
Electron gun
Electromagnetic lens
Sample preparation
Detector
Analysis
Resolution, Depth of field
Imaging mode
Example
EDS, WDS, EBIC, EBSD
XPS
Introduction
Principle
Instrument
X-ray source
Electron energy analyzers
Detector
Sa
|
- 페이지 35페이지
- 가격 900원
- 등록일 2006.08.07
- 파일종류 피피티(ppt)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
XPS와 AES에서만 사용할 수 있는 유일한 분석기술이다.
5) 절연물질의 분석
분석대상 시료가 절연체(세라믹스, 유리, 고무, 고분자 등)일 경우 광전자의 방출에 의한 전자부족으로 하전현상(charging effect)이 일어나서 광전자 선이 높은 결합에너
|
- 페이지 9페이지
- 가격 2,300원
- 등록일 2013.08.06
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
사전자현미경(SEM)의 배율 및 분해능
1) 배율
주사전자현미경의 배율은 편향코일에서 주사하는 각도에 따른 면적대비 음극관(CRT, 요즘은 PC 모니터)의 면적비율이다. 즉, 편향코일의 각도에 따라서 저배율에서 고배율을 선택할 수 있다. 편향각
|
- 페이지 22페이지
- 가격 900원
- 등록일 2005.10.24
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
SEM image 및 sample에 미치는 영향에 대하여 설명하시오
가속전압(accelerating volatage)은 전자빔의 크기를 조절 한다. 전자를 이용한 sample의 측정에서 전자는 sample에 부딪치며 그 크기만큼의 충돌구가 형성되며, 전자빔의 크기가 클수록 깊은 구가
|
- 페이지 4페이지
- 가격 1,300원
- 등록일 2013.12.06
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 있음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|
|
처리 및 표면현상 이해 등)에 많이 이용되고 있으며,금속, 세라믹, 반도체 재료 등 모든 재료 분야에서의 ESCA 이용이 크게 증가할 것입니다. ➀ 주사전자현미경(SEM)
➁ 자외선-가시광선 분광광도계(Ultraviolet-Visible spectrophotometer)
|
- 페이지 10페이지
- 가격 1,500원
- 등록일 2010.05.06
- 파일종류 한글(hwp)
- 참고문헌 없음
- 최근 2주 판매 이력 없음
|