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Depth of field
Imaging mode
Example
EDS, WDS, EBIC, EBSD
XPS
Introduction
Principle
Instrument
X-ray source
Electron energy analyzers
Detector
Satelite lines
Sample preparation
Analysis
Elemental analysis,
Chemical state analysis
Quantitative analysis
Depth profile analysis
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(3) 감도 및 검출 한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
(4) 화학적 이동 (Chemical shift)
(5) 정량 분석 (Quantitative analysis)
Reference
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정에서 어떤 실험 분석을 주도했으며, 그것이 셀 개발에 어떻게 연결될 수 있나요?
XPS, SEM-EDS, TEM 등 표면 분석과 전기화학 임피던스 분석(EIS)을 연계하여 계면 저항 원인을 분석한 경험이 있습니다. 이를 통해 소재의 미세 구조와 전지 특성 간
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