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전문지식 2건

Depth of field Imaging mode Example EDS, WDS, EBIC, EBSD XPS Introduction Principle Instrument X-ray source Electron energy analyzers Detector Satelite lines Sample preparation Analysis Elemental analysis, Chemical state analysis Quantitative analysis Depth profile analysis
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  • 등록일 2006.08.07
  • 파일종류 피피티(ppt)
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(3) 감도 및 검출 한계 (4) 적용범위 (5) 분석방법 10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) (1) 기본원리 (2) ESCA 장치의 주요 구조 (3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum) (4) 화학적 이동 (Chemical shift) (5) 정량 분석 (Quantitative analysis) Reference
  • 페이지 31페이지
  • 가격 3,000원
  • 등록일 2011.01.24
  • 파일종류 한글(hwp)
  • 참고문헌 있음
  • 최근 2주 판매 이력 없음

취업자료 1건

서 어떤 실험 분석을 주도했으며, 그것이 셀 개발에 어떻게 연결될 수 있나요? XPS, SEM-EDS, TEM 등 표면 분석과 전기화학 임피던스 분석(EIS)을 연계하여 계면 저항 원인을 분석한 경험이 있습니다. 이를 통해 소재의 미세 구조와 전지 특성 간 연
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  • 등록일 2025.07.14
  • 파일종류 한글(hwp)
  • 직종구분 일반사무직
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