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2. 각 부분별 작동원리
3. 집속 이온빔 장치의 응용
SEM(Scanning Electron Microscope)
1. 주사전자현미경(SEM)이란?
2. SEM의 작동 원리
3. SEM의 구성
MgO 보호막
1. MgO 보호막의 조건 및 역할
2. MgO 보호막 성막 방법
3. MgO 보호막의 평가기술
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주사현미경에 이용
8. 고속 광 마이크로모터에 이용
9. 레이저 인쇄기술에 이용
10. 미립자 특성연구에 이용
Ⅳ. 레이저광의 도플러효과
1. 원자의 공진 및 흡수 밀도함수
2. 레이저광의 도플러 주파수
3. 맥놀이 효과
Ⅴ. 레이저광과 표
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고속카메라세트, 화재시뮬레이션 시스템, X선 촬영기, 금속현미경, 시편절단기, 시편성형기, 시편연마기, 접점저항계, 직류전압전류계, 교류전압전류계, 오딜로스코프, 주사전자현미경, 인화점측정기, 발화점측정기, 미량융점측정기, 온도기
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주사형검침현미경
(SPM) 장비 기술
고속 및 정량측정이 가능한 신기능이 추가 부여된 주사형검침현미경(SPM) 개발 및 그 활용기법 개발
\'02∼\'06
(5년이내)
\"
8.나노이론의 전산모사
기술
나노소재, 구조, 소자, 시스템의 원자/분자 수준 양자역학
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주사전자현미경・Scanning Electron Microscopy)
이론
TEM (투과전자현미경・Transmission Electron Microscopy)
원리
구조
SEM, TEM 비교
AE(ACOUSTIC EMISSION)
원리
AE 검출법의 장점
활용
EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)
원리와 구성
* EPM
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