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나타냄
투과전자현미경(TEM)-보통 주로 쓰임 주사전자현미경(SEM)-시료 표면의 입체구조 관찰 =>http://my.netian.com/~jeojoon/micro.htm
http://chemistry.sogang.ac.kr/department/safety.htm
http://phys.kookmin.ac.kr/~phys/physlab/act.html 실험실 유의 사항
광학현미경
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광학현미경의 경우
광학현미경에서의 depth of field는 카메라의 예와는 차이가 있으나, 개념적으로 이해하기에 카메라의 예가 큰 도움이 된다. 광학 현미경의 경우도 마찬가지이다.
관찰의 대상이 되는 plane II가 선명하게 초점이 맞춰진다면-다
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가속된 전자 파를 이용하여 훨씬 짧은 전자파를 사용하기 때문에 전자현미경을 사용하여 얻은 해상력은 광학적인 것의 100정도인 0.004㎛에 이르게 된다.
1. 투과전자현미경(transmission eletron microscope)
전자파가 표본을 투과하여 나온 전 beam을 몇
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(네이버 지식 백과)
http://me.cau.ac.kr/~microsys/kor/mari_board/data/data/(5)%20Etching(10)STD.pdf
- 광학현미경
http://terms.naver.com/entry.nhn?cid=200000000&docId=1065194&mobile&categoryId=200000457 (네이버 지식백과)
- 재료공학개론 : 4장 참조
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현미경에는 크게 나누어 투과전자현미경( Transmission Electron Microscope)과 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)으로 구분할 수 있다. 이의 구조상 차이는 광학현미경의 투과 형과 반사형의 차이와 같다고 하겠으며 시료를 준비하는 작업 역시 광
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