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1. 실험 목적
여러 개의 독립 전원이 있는 선형회로에서 어떤 저항의 양단에 걸리는 전압 또는 이에 흐르는 전류를
중첩의 정리를 이용하여 구하는 방법을 이해하며, 실험을 통해서 확인해본다. 2. 실험 이론
(1) 선형소자와 선형회로
선형
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회로를 완성한다.
실험 내용 및 예상 결과
(1)실험 내용
▲실험회로(기본 회로실험)
①위의 실험 회로를 구성하라. 저항 R1=R2=300[Ω], R3=150[Ω]을 각각 연결하라.
②부하저항 =330[Ω]을 연결하고, 직류전원 V1=12[V]를 인가하라.
③에 걸린 전압 을
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0.140V/5.58V 0.0251
전압변동률(VR) = (무부하전압-전부하전압) / 전부하전압
A-G : 전압변동률(VR) = (10.88V-6.68V)/6.68V 0.6287
P-G : 전압변동률(VR) = (10.68V-5.58V)/5.58V 0.912
4. 참고문헌
전기 전자 통신공학도를 위한 기초회로실험ㅣ강경인 외ㅣ문은당
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회로>
<DC sweep 해석 결과>
<diode 해석을 위한 회로>
<diode i-v 특성>
<트랜지스터 해석을 위한 회로>
<트랜지스터의 전기적 특성>
<secondary sweep 대신 parametric sweep을 이용한 트랜지스터 특성그래프>
실습2. parametric 해석
&l
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실험결과:
<AC sweep simulation용 회로>
<Bode magnitude plot>
<output file>
**** 10/16/16 17:53:57 ******* PSpice Lite (March 2016) ******* ID# 10813 ****
** Profile: "SCHEMATIC1-C_AC_SWEEP3" [ C:\Users\윤희찬\AppData\Roaming\SPB_Data\pspice test-PSpiceFiles\SCHEMATIC1\C_AC_SWEEP3.s
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실험의 결과와 오차는 다음과 같이 나왔다.
VTH(V)
RTH(Ω)
IL(mA)
RL(Ω)
측정치
계산치
오차
(%)
측정치
계산치
오차
(%)
측정치
계산치
원회로와 계산치의
오차
(%)
원회로
태브냉
등가회로
330
3.38
3.382
0.06
802
802.70
0.09
2.90
2.99
2.98
2.7
120
3.38
3.382
0.06
802
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. 그리고 RL을 바꾸어 가면서 총 세 번의 실험을 했다. 이번엔 RL을 단락시키고 그 branch에 흐르는 전류(IN)를 측정하였다. 또 전압원까지 단락시킨 후 등가 저항을 측정했다. 마지막으로 노턴 등가회로 칸에는 측정치를 이용하여 IL을 계산한 값
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회로실험 내내 일정한 오차가 작용했다는 것을 알 수 있다.
- 가역 정리
=> (그 림7-5) 회로의 단자 A, B의 전압을 2V, 4V, 6V로 변환시키면서 멀티미터를 이용하여C, D에서의 전류를 측정하였다.
<전압에 따른 전류>
전압
흐르는 전류(mA)
이론
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이물질을 제거 안해도 되지만 부식 이 되었다면 표면을 깨끗이 처리 후 납땜을 해야하며 코일일 경우에는 코일표면에 절연코팅처리가 되있으므로 칼이나 사포로 이를 제거한 후에만 납땜이 가능하다. 실험목적
이론적배경
결과
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실험은 임피던스 브리지를 이용하여 인덕턴스, 커패시턴스를 측정하여 원리를 이해하고, 그 방법을 익히는 실험이었다.
실험은 직렬형, 병렬형 비교 브리지와 맥스웰-빈 브리지 실험을 하였고, 헤이브리지는 실험 하지 못했다.
검류계가 없어
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