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게이트를 만드는 것과 펄스 파형을 이용해 OR, XOR의 논리게이트를 테스트를 하고 이 두 가지 게이트를 이용해서 4비트 2진수의 1의 보수, 2의 보수를 취하는 회로를 구성하고 결함이 발생하였을 때에 회로의 고장을 진단하는가를 봤다. 일단 우
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논리게이트
AND 게이트
AND 게이트는 2진 연산(binary arithmetic)의 논리곱을 나타내는 논리 게이트로써, AND게이트에 인가되는 입력들의 논리값이 모두 1일 때만 출력의 논리 값이 1이 되는 논리연산 기능을 갖는다. 입력의 논리값을 나타내는 변수
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게이트의 진리표를 작성하고 NAND , NOR 게이트를 이용하여 다른 기본 논리게이트를 구성하는 방법과 ANSI/IEEE 표준 91-1984 논리 기호를 사용하는 방법을 알아보는 실험이다.
2장3장의 실험의 경우에는 회로도를 책에서 제공하여 회로도를 보고 그
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논리 연산을 수행함으로써 이 두 가지 이상이 값을 다룰 수 있도록 하는 것보다 회로를 구현하기 쉽고, 신호의 송수신이 오류를 줄일 수 있어, 더욱더 안정된 시스템을 구성할 수 있다. 기본게이트(gate)에는 모든 입력이 1일 때 출력이 1이 되는
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전가산기
Reference
1. 디지털논리시스템(동명사)-정의봉 저.
2. 디지털공학실험(복두출판사)-김상욱외 7명
3. Didital Logic Application And Design, Yarbrough 실험9. PLD를 이용한 회로구성
관련이론
○ PLD란?
○ PLA
○ PAL
실험계획
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