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실험결과 :
<표2-1>
측정 범위
Χ1
Χ10
Χ1K
Χ10K
판독 범위
<표2-2>
균등 눈금 범위
판독 내용
1차 눈금의 단위값
2차 눈금의 단위값
<표2-3>
판독 내용
허용 오차
DC V
DC mA
AC V
<표2-4>
구분
측정 범위
이 론 치
측 정 치
[%] 오 차
DC
건전
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실험 방법 및 시뮬레이션
[예비 실험 1] BCD to Excess-3 converter
3.7장의 BCD to Excess-3 converter 회로를 VHDL로 구성하여 출력하시오. 클록의 주기는 40ns로 하시오.
각 출력을 부울대수로 나타내면 다음과 같다.
아래와 같이 VHDL과 Simulation을 실행하였다.
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논리식으로 만들면
O3 = S3S2'S1'S0'
O2 = S2S1'S0' +S3S2'S0 +S3S2'S1+S3'S2 = S2(S3'+S1'SO') + S2'S3(S1+S0) = S2(S3(S1'S0')') + S2'(S3(S1'S0')') = S2 XNOR S3(S1'S0')
O1 = S3S1'S0 +S1S0'+S3'S1 = S3S1'S0 +S1(S0'+S3')=S1'(S3S0)+S1(S3S0)'
= S1 XOR S3S0
O0 = S0
이에 대한 회로도를 그리면
회로도를 작성
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출력값을 인가
SEG_COM : 한 SET의 신호를 8개의 7-SEGMENT 중 출력될 7-SEGMENT에 할당
module part5(DIP_D,SEG_DATA,SEG_COM,CLK,RESETn); 설계목표 1-3
회로도 및 알고리즘 1-2
verilog code and annotation 1-9
pin assignment table 1-10
simulation result 1-3
실험시 유의사항
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각종 프로그램
펌웨어
하드웨어와 소프트웨어의 중간적 성격
ROM에 구성된 논리회로 하드웨어이 하드웨어를 제어하는 프로그램 소프트웨어
ROM-BIOS, Flash ROM 컴퓨터의 기본 개념
컴퓨터의 발전 과정
컴퓨터의 분류
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ACC(Accumulator)
ALU(Arithmetic Logical Unit)
CONTROL BLOCK < 프로젝트명 - 4bit microprocessor >
- 4bit의 기능블럭 밎 각각의 기능
- 4bit의 내부블럭도
- ALU와 ACC의 블럭도 및 설계도
- 4Bit up의 Top-Level 회로도
- 시뮬레이션 결과
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이다.
(a) 0.37㎌ = 370000㎊ = 37×104㎊ => 374
(b) 270㎌ = 270000000㎊ = 27×107㎊ => 277
(c) 57㎌ = 37000000㎊ = 57×106㎊ => 576
(5) 부록 B에 있는 디지털 멀티미터(HP 34401A)와 LCR미터(HP 4263B)의 사용법을 충분히 읽고 이해한 후에 실험에 임하시오. 1. 실험
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디지털 전환과 글로벌 경쟁이 가속화됨에 따라, 리더는 특정 특성보다는 상황에 따라 변화하는 행동 전략이 더 중요하게 부각되고 있다. 따라서 조직 내 리더십 개발 프로그램에서도 행동 중심의 훈련이 더 실질적이고 효과적임이 입증되고
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가. 오실로스코프(Oscilloscope)
전기신호를 눈으로 볼 수 없으니 이러한 전기 신호를 파형으로 표한하여 어떤 모양을 하고 있는지를 눈으로 볼 수 있도록 하는 계측기이다. 오실로스코프를 사용하면 전기 신호가 시간에 따라 변화하는 모습을
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1. 목적
가. 인코더와 디코더의 기능 및 그 구성 방법을 익힌다. 나. 멀티플렉서와 디멀티플렉서의 구조와 동작 원리를 이해하고 이들 회로에 대한 응용 예를 배운다.
2. 이론
가. 디코더
‘복호기’라고도 부르는 디코더는 최대 2ⁿ개의
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