|
실험에 사용된 7400시리즈 정리
① 7400 - Quadruple 2 input NAND gate
② 7404 - Hex inverter
③ 7410 - Triple 3 input NAND gate
④ 7474 - Dual Positive-Edge-Triggered D Flip-Flops
⑤ 7476 - Dual J-K Flip-Flops with Preset and Clear 논리회로 실험 5. 인코더 (Encoder)
실험 1. 인코딩 -
|
|
|
1. 목적 : 순차적 논리회로의 기본 소자인 래치와 플립플롭의 여러 종류에 대한 기능의 차이를 알아보고 동작 조건을 확인한다.
2. 실험 준비물
- 직류전원장치 1대
- 오실로스코프 1대
- Function Generator 1대
- Bread Board 1대
- Quad 2 Input NAND Gate (7
|
|
|
1. 실험 목적
2. 기초 이론
3. 실험 예비 보고
4. 실험 방법 및 순서
|
|
|
논리회로 시간에 배웠던 래치와 플립플롭의 동작을 직접 확인해 볼 수 있었다. 래치의 경우 클록 신호가 허용되어 있는 동안은 연속적으로 입력 변화가 출력에 전달되는데 반해, 플립플롭은 오로지 클록 신호에 따라서만 그 출력이 바뀌는 것
|
|
|
연산을 위한 논리 게이트가 포함되어야 한다. 실험의 첫 단계로, 각 스위치를 통해 4비트 이진수를 입력한다. 이진수 입력은 덧셈, 뺄셈, AND, OR와 같은 기본 연산을 수행하기 위해 필요하다. 입력된 값은 회로를 통해 처리되어 결과가 출력 LED
|
|
|
논리 축소를 위한 기본적인 불대수의 기본 연산
카르노 맵이란 부울함수를 표준형으로 표현할 수 있는 모든 가능한 방법들중 한가지로
논리간략화에 있어서 시각적인 그래프 기법의 하나이다.
3. 실험과정
1. 위 그림의 회로를 사용하여 표를
|
|
|
실험은 NOT, OR, AND 게이트, NAND, NOR, Exclusive-OR 게이트의 논리함수 개념과 Gate의 구조 및 기능에 대해 알아보고 측정하는 실험과 부울 함수를 이용한 논리회로의 표현방식을 익히고 구현해보는 실험을 하였습니다.
각 Gate 마다 쓰여 있는 숫자가
|
|
|
라고 한다.
setup time Ts는 클록의 상승 모서리 시점 이전에 동기식 입력신호가 변하지 않아야 되는 최소 시간간격을 말하며, hold time Th는 클록의 상승 모서리 시점 이후에 동기식 입력신호가 변하지 않아야 되는 최소 시간간격을 말한다.
< 74L
|
|
|
논리 1을 저장했다고 말할 수 있고, 리셋(reset) 상태에 있는 플립플롭은 논리 0을 저장했다고 말할 수 있다.
입 력
출 력
D
Q
0
0 1
1
1 0
[ 진리표 ] [ 회로도 ]
Ⅲ. 결론
논리 회로는 컴퓨터, 데이터 통신, 디지털 기록, 디지털 하드웨어를 필요로 하
|
|
|
논리회로가 단일 고착 고장이라 해도 다중 고착 고장으로 간주해 취급해야 한다.
복잡한 디지털 시스템 시험 방법
Scan Testing : Scan 입력에 대한 출력 관측. Internal scan 및 Boundary scan
BIST(Built-In Self Test)
그림 2.5.4 내부 스캔 테스팅 개략도
그림 2.5
|
|
메뉴펼치기
