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rictional Force Microscopy)
표면에서 일어나는 화학적 변화에 의한 탐침위의 측면 힘의 변화 측정
㉡자기력 현미경(Magnetic Force Microscopy)
자성체를 입힌 탐침을 사용하여 시료의 자기적 성질을 알아내는 장치
㉢정전기력 현미경(Electrosatic Force Microscop
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현미경(SEM, Scanning Electron Microscopy) : PILETA, 보유장비,
http://www.pileta.co.kr/%EB%B3%B4%EC%9C%A0%EC%9E%A5%EB%B9%84/2191406
[3] Fig.6 Sputter 장비 : HITACHI, Ion Sputter MC1000
https://www.hitachi-hightech.com/kr/product_detail/?pn=em-mc1000&version=ko
[4] Fig.7 원자력현미경(AFM, Atomic Force
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관찰이 가능하나 배율이 너무 낮아 외형적인 구조관찰에 그 친다. 전자 현미경도 생물시료를 액체상태에서 유지하면서 구조를 관찰 하는 것이 거의 불가능하기 때문에 전자 현미경 또한 일반 현미경과 같이 생물시료에 많은 문 제점을 내포
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현미경, 원자력반발현미경(AFM), 근접장투과현미경(SNOM) 등이 개발되면서 나노구조나 단일 분자의 특성을 측정하고 조절할 수 있게 된 것이 현재의 나노기술 발전에 커다란 영향을 미침 기술의 배경 및 발전과정
기술의 기본원리 또는
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원자력 현미경(AFM)은 수백 마이크로미터 이하의 범위를 측정할 때 사용해 왔다. 그러나 더 큰 범위의 측정을 위해 200mm X 200mm의 AFM을 설계, 제작하였다. 전체 스테이지 시스템은 표면판, 글로벌 스테이지, 마이크로 스테이지로 구성하였다. 글
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