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ctional Force Microscopy)
표면에서 일어나는 화학적 변화에 의한 탐침위의 측면 힘의 변화 측정
㉡자기력 현미경(Magnetic Force Microscopy)
자성체를 입힌 탐침을 사용하여 시료의 자기적 성질을 알아내는 장치
㉢정전기력 현미경(Electrosatic Force Microscopy)
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원자력현미경(AFM, Atomic Force Microscopy) : ELIM Global, 제품소개,
http://elim-global.com/bbs/board.php?bo_table=m2&wr_id=229#null 1. 간단 요약
2. 서론 ; 방법 제시
3. 본론 ; 방법 설명
① 광학 현미경 (OM, Optical Microscopy)
② 투과 전자 현미경 (TEM, Transmissio
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TEM 에 비해 시편 준비가 쉽다.
air, liquid 상태에서 샘플 측정 가능.
5. NSOM ( Near-field Scanning Optical Microscope )
NSOM은 Near-field Scanning Optical Microscope의 약자로 Tip 끝의 약 50nm 정도의 Aperture를 통해 0.05um의 Optical 분해능으로 광학 Image를 볼 수가 있으며,
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현미경 (Optical microscopy)
② 투과 전자 현미경 (TEM, transmission electron microscopy)
③ 주사 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscopy)
④ 원자력 현미경 (AFM, atomic force microscopy
4. Scattering : 고분자 내부 구조 분석
- Scattering method (산란법)
①
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찰이 가능하나 배율이 너무 낮아 외형적인 구조관찰에 그 친다. 전자 현미경도 생물시료를 액체상태에서 유지하면서 구조를 관찰 하는 것이 거의 불가능하기 때문에 전자 현미경 또한 일반 현미경과 같이 생물시료에 많은 문 제점을 내포하
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현미경(SEM, TEM), X선 회절분석(XRD), 라만 분광법(Raman Spectroscopy) 등을 활용하여 소재의 구조적 특성을 평가합니다.
전기화학적 분석: 전기화학적 임피던스 분광법(EIS), 순환 전압 전류법(CV) 등을 이용하여 소재의 전기화학적 성능을 측정합니다.
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