|
전자, 후각 산란전자, X-ray 에 의한 image
4. 결론
1) TEM과 SEM의 비교
전자현미경에는 크게 나누어 투과전자현미경( Transmission Electron Microscope)과 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)으로 구분할 수 있다. 이의 구조상 차이는 광학현미경의 투과
|
|
|
전자현미경 (Scanning Electron Microscope)란
≪ 그 림 ≫
집속된 전자빔을 시료표면에
주사하면서 전자빔과 시료와의 상호작용에 의해서 발생되는
이차전자(Secondary Electron, 이하 SE) 혹은 후방산란전자(Back Scattered Electron, 이하 BSE)를 이용하
|
|
|
발견 방사선의 정의와 종류
진단 방사선 발생장치의 구조
( 음극, 양극, 관용기, 진공관 )
방사선 발생장치의 발생원리
( 제동 방사선, 특성 방사선 )
X선과 물질과의 상호 작용
( 광전효과, 콤퓨턴 산란, 전자쌍 생성, 톰슨 산란)
|
|
|
전자현미경 분석
(SEM : Scanning Electron Microprobe Analysis)
① 원리
고체 시료에 전자선을 주사하면 시료의 표면층과 일정 내부의 물질이 가지고 있는 원자와 충돌, 산란된 여러 작용이 발생되고, 이 상호작용의 결과로 시료표면으로부터 2차전자, 반
|
|
|
전자영상(Secondary Electron Image),후방 산란전자영상(Back-scattered Electron Image)
출처:
기기분석. 東和技術, 박기학 저| 동화기술교역 | 2004
초음파탐상 음향방출학 개론 권호영 저| 골드(골드기술사) 2003
http://www.hanmilab.co.kr/neboard/Board.aspx
http://www.rectuso
|
|
 |
산란, 감쇠 등)을 깊이 이해할 수 있었고, 이후 직무에서도 큰 도움이 되었습니다.
학창 시절부터 Python, MATLAB, C 기반 신호처리 코딩 능력을 꾸준히 키워왔으며, 현재도 알고리즘 개선과 검증에 적극 활용하고 있습니다.
[성격의 장단점]
저는
|
|
메뉴펼치기
