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파장의 분류
2. X선의 발생 원리
3. X선 발생 장치의 작동원리
4. 연속 X선 원리
5. 특성 X-선 원리 (형광 X-선)
Ⅱ . X-선의 문화재에 대한 활용
1. X선 투과조사(X-ray Radiography)
2. X선 형광 분석
3. X선 회절분석
4. 주사전자현미경 분석
5. ICP
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장치 구성
(2) 결과 분석
(3) DTA peak 해석
(4) 시차온도곡선의 이해
(5) DTA의 특징
4. FTIR (Fourier transform infrared spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) FTIR의 특성
(3) FTIR의 구성
(4) FTIR에서의 Sampling 기법
5. AES(Auger Electron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) AES/SAM
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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나열되어 BCC의 특성값인 h+k+L=S값으로 (110) (200) (211) (220)등이 S값의 2,4,6,8,10의 값에 나타나게 되어 BCC임을 알수 있다. S값의 1/2제곱근 값에 측정된 d(면간 거리)값을 1.전자현미경과 종류
2.x선의 원리및 종류
3.x선으로 결정구조 측정
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신광 출판사 1991
의료 영상 정보학 154-150 김영일 외 대학서림 1996
의료 영상 정보학 108-122 신광출판사 허준 Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
1. 방사선의 정의와 종류
2. 방사선의 발생 원리
3.. 발생원리
4. 방사선과 물질과의 상호 작용
Ⅲ. 결론
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계측 15-33 신광 출판사 1991
의료 영상 정보학 154-150 김영일 외 대학서림 1996
의료 영상 정보학 108-122 신광출판사 허준 서론
본론
1. 방사선의 정의와 종류
2. 방사선의 발생 원리
3.. 발생원리
4. 방사선과 물질과의 상호 작용
결론
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