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실험의 여건상 제대로 Ib에 따른 각 region 별 콜렉터 특성을 살펴보고 비교할 수 없어서 아쉽다.
고정바이어스 실험과 전압분배기 바이어스 실험에서는 단순히 회로만 꾸며보고 그 특성을 살펴보았을 뿐 거기에 따른 트랜지스터별로 비교하거
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회로 (c) 출력신호
클램핑 회로
- 클램핑 회로의 동작
(a) Vin = 5V (0→t1)인 경우
(b) Vin = -10V (t1 →t2)인 경우
- 저항 R의 100kΩ을 1kΩ으로 대치한다면, 시정수는 τ = RC = (103)(1.0×10-6) = 0.1 ms, 콘덴서 방전 시간은 5τ = 0.5ms가 되어 입력 신호의 반주기
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결 실험: 두 개의 커패시터를 병렬로 연결한 회로를 설정한 후. 다시 한 번 측정 도구를 사용하여 전체 커패시턴스 및 전압을 측정한다.
2. 주파수에 따른 Xc의 변화 실험:
커패시터를 회로에 연결하고, Xc(커패시터의 리액턴스) 값을 주파수에
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BJT와 같이 접합 전계효과 트랜지스터(JFET)은 차단, 포화, 선형의 세 가지 영역에서 동작한다. JFET의 물리적 특성과 JFET에 연결된 외부회로가 동작 영역을 결정한다. 이 실험에서는 JFET의 주어진 회로 규격들에 부합하여 선형 영역에서 동작하도
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1. 실험 개요
- 연산 증폭기는 아날로그 회로에서 가장 널리 사용되는 회로이다. 일반적인 연산 증폭기는 차동 입력을 받아서 단일 출력을 내보낸다. 이 실험에서는 연산 증폭기의 전압 이득, 입력 저항, 출력 저항, 대역폭, 옵셋 전압, 슬루율
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1. 실험 개요
- 연산 증폭기는 아날로그 회로에서 가장 널리 사용되는 회로이다. 일반적인 연산 증폭기는 차동 입력을 받아서 단일 출력을 내보낸다. 이 실험에서는 연산 증폭기의 전압 이득, 입력 저항, 출력 저항, 대역폭, 옵셋 전압, 슬루율
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형의 왜곡 현상 관찰
1) 실험 회로 7-1 회로에서 입력 신호의 크기를 증가시켜 가면서 출력 파형을 관찰하라. 출력 신호의 왜곡이 없는 입력 신호와 출력 신호의 최대값을 측정하라.
2) 실험 방법 1)을 PSPICE로 시뮬레이션하고 실험 결과와 비교하
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및 부품
직류 전원 공급 장치
함수 발생기
오실로스코프
디지털 멀티 미터
트랜지스터 : 2SC1815 (1개)
저항 1kΩ, 2Ω, 2.7kΩ, 3.9kΩ, 4.7kΩ, 5.6kΩ
커패시터 : 47μF (전해, 3개)
4. 실험 방법
4.1 이미터 접지 증폭 회로
1) 실험 회로 12-1의 회로를 구성
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실험을 하다보니 막히는 부분도 많았고 실험값도 엉터리로 나왔다. 다음 실험시간에 교수님께 다시 여쭤보고 입출력 저항을 측정하는 법을 다시 배워서 다시 실험할 수 있도록 해야겠다.
2.2 출력 파형의 왜곡 현상 관찰
2.2.1 실험 회로도
PSPICE
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회로
위 좌측 그림에서 우측 그림으로 테브난 등가 회로로 고치면
, 이고,
, ,
위 식에서 이면 는 에 무관하게 된다.
3. 사용 장비 및 부품
직류 전원 공급 장치
디지털 멀티 미터
바이폴라 트랜지스터 : 2SC1815 (1개)
4. 실험 방법
4.1 트랜지스터
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