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파의 형태로 만들어 시료에 조사함으로써 반복측정이 가능토록 하였다. 본 실험에 이용되는 기구 및 시약은 다음과 같다.
반도체 레이저(파장 532 nm, 출력 40 mW)
전원 공급장치 전류 조절장치
볼록렌즈(FL 60 mm 정도)
다이오드 광 검출기(photodiode
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렌즈 방정식인 에서 굴절률에 따라서 파장에 의존하기 때문에 초점거리도 파장에 따라 변한다. 즉, n은 가시광선영역에서 파장에 따라 감소하므로 초점거리는 파장에 따라 증가하며, 보라색에서 빨간색까지의 색깔에 대응하는 두 개의 초점
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렌즈에 의해서 재확대하는 장치.
일반적으로 현미경이라고 할 때는 이것을 가리킨다. 종류에는 보통현미경·자외선현미경·적외선현미경·형광현미경·암시야현미경·위상차현미경·편광현미경·간섭현미경 등이 있다. - 테라헤르츠파 광
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파단면(fractured surface)를 관찰하든지 혹은 diamond blade등으로 절단한 다음 SiC, Al2O3 powder, diamond paste등으로 연마하여 관찰하든지 간에, 최종 coating을 하기 전에 시편을 깨끗하게 청소할 필요가 있다. 세라믹스나 금속 시편은 수화반응(hydration)이
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렌즈
2) 오목렌즈
Ⅵ. 측정과 비열측정
1. 실험의 목적
2. 이론
3. 실험장치
Ⅶ. 측정과 권선저항측정
1. 실험목적
2. 기계 및 기구
3. 실험 방법
Ⅷ. 측정과 등전위선측정
1. 목적
2. 원리
1) 특징
2) 제품규격
3. 실험 방법
Ⅸ. 측정
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(주)파렌즈에 대한 재무제표 및 기업정보를 중심으로 분석한 상세보고서(종합신용등급, 현금흐름등급, Watch등급, 기업개요, 주요재무상황, 주요재무비율, 재무신용평정, 신용도 분석의견, 기업현황, 주요 주주현황, 경영진현황, 관계사현황,
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