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. 종류에는 보통현미경·자외선현미경·적외선현미경·형광현미경·암시야현미경·위상차현미경·편광현미경·간섭현미경 등이 있다. - 테라헤르츠파 광원
- 극초단 방사원(X-선) 스위치 개발
- 전자빔
- 전자현미경
- 광학현미경
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되는 빛의 파장 0.2μm(2000Å)이 가지는 한계성으로 인해 파장 이하의 미세 구조에 대해서는 관찰이 불가능하다. 이러한 문제점을 극복할 목적으로 전자선을 광원으로 사용하는 전자현미경이 개발되었다.
기술이 진보함에 따라 마이크론 크기
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전자,
X-선 음극광이 발생되며 시료가 얇을 경우는 투과전자가 생긴다.
- 이들 발생 신호는 각각의 적당한 검출기에 의해 전기 신호로 변화되어 영상화된다.
- 적당한 구도와 배율에서 사진촬영을 한다.
8. 현상 및 인화
- 투과형 전자현미경의
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Electron microscopy : 주사전자현미경)
1. 구 조
2. 전자선의 발생 원리
3. SE(Secondary Electron)와 BSE(Backscattered Eletron)의 차이와 장단점
4. 가속전압과 Image와의 관계
5. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer), WDS(Wavelengths Dispersive X-ray Spectrometer)
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금속 표면의 모든 부분을 고르게 연마해야 한다.
* 참고문헌
전자현미경 시편 제작 - 이 정 용 저
실용 X선 회절분석 - 이 형 직 역
X-선 과학과 응용 - 구양모 신남수 공저
투과전자현미경 분석학 - 금동화김긍호이확주 편저
X-선 회절분석
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