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Electron microscopy : 주사전자현미경)
1. 구 조
2. 전자선의 발생 원리
3. SE(Secondary Electron)와 BSE(Backscattered Eletron)의 차이와 장단점
4. 가속전압과 Image와의 관계
5. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer), WDS(Wavelengths Dispersive X-ray Spectrometer)
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전자빔은 가속전압에 따라 유동적이기는 하나 일반적으로 약 40Å 정도의 파장을 가지고 있다. 1.주사전자현미경
2.전자현미경
3.전자현미경의 기원
4.주사현미경과 광학현미경의 비교
5.주사전자현미경의 원리
6.주사전자현
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전자현미경의 종류
2) 왜 전자를 사용하는가?
2. 투과전자현미경(TEM)
1) 투과전자현미경이란?
2) 가속전자와 시료의 반응
3. 주사전자현미경(SEM)
1)주사 전자 현미경이란?
2) SEM의 원리
3) SEM의 분해능(resolution)
4) 구성요소
5) 신호의 종
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현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
*주사전자현미경*
1. 현미경의 조직검사
2. 시료의 준비
3. 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)
4. 주사전자현미경의 개요
5. 주사전자현미경의 역사
6.주사전자현미경의 원리
7. SEM의 기본적 구조 및 기
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전자총의 구조
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전자총의 외부 사진
≪ 사 진 ≫
텅스텐 필라멘트의 사진
≪ 사 진 ≫
Hair Pin 형태의 열방사형 전자총의 모식도
≪ 그 림 ≫ 1. SEM 이란
2. SEM의 구조
3. SEM의 원리
4. SEM
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