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전자파를 만들려면 일단 고체 물질 내에 들어 있는 많은 수의 전자를 공중으로 띄워 내야 하는데, SEM
Introduction
OM vs SEM
Principle
Instrument
Electron gun
Electromagnetic lens
Sample preparation
Detector
Analysis
Resolution, Depth of field
Imaging mode
Example
EDS
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전자 현미경
1.4. 전자현미경의 관찰과 응용 범위
1.5. 고분자소재의 특성과 전자현미경
1.6. 전자현미경을 위한 기본용어 해설
2. Scanning Electron Microscopy(SEM)
2.1. SEM의 기본 원리
2.2. SEM의 특징
2.3. SEM의 용도와 비교
2.4. SEM의 구조
2.5. EDS (
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EDS와 WDS의 차이점 SEM(Scanning Electron microscopy : 주사전자현미경)
1. 구 조
2. 전자선의 발생 원리
3. SE(Secondary Electron)와 BSE(Backscattered Eletron)의 차이와 장단점
4. 가속전압과 Image와의 관계
5. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer), WDS(Wavelengt
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└──────────────────────────────── 1. SEM이란?
1.1. SEM의 개발
1.2 . 광학현미경과 비교
1.3 . TEM과 비교
2. SEM의 원리
3. SEM의 구성
4. SEM의 동작원리
5. EDS란?
6. 실험보고
7. 실험결과
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되고, 이때 발생하는 여분의 에너지가 X-Ray 이다. 이 특성 X-선은 원자의 종류 및 전자 궤도에 따라 다르므로 이를 이용하여 시편의 화학적 성분을 정성 혹은 정량분석을 할 수 있는데, 이를 EDS(Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) 라고 한다.
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