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ctional Force Microscopy)
표면에서 일어나는 화학적 변화에 의한 탐침위의 측면 힘의 변화 측정
㉡자기력 현미경(Magnetic Force Microscopy)
자성체를 입힌 탐침을 사용하여 시료의 자기적 성질을 알아내는 장치
㉢정전기력 현미경(Electrosatic Force Microscopy)
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na 1.투과전자현미경의 개요
2.투과전자현미경의 발전역사
3.투과전자현미경의 원리
4.투과전자현미경의 구조
5.투과전자현미경의 분해능
6.투과전자현미경의 영상기법과 응용
7.투과전자현미경으로 촬영한 영상
8.시편제작
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강도차가 발생하게 된다. 투과전자현미경에서는 고에너지를 갖는 전자선이 전자렌즈계를 거쳐 시료를 통과하여 형광판에 상을 맺게 되므로 그 시료는 극히 얇아야 된다는 것을 전제조건으로 하고 시료의 밀도, 두께, 강도 등의 차이를 따른
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현미경이다.
광학현미경에서는 영상을 형성할 때 가시광선을 사용하나, 전자현미경에서는 전자비임을 이용한다. 그 이유는 파장이 짧을수록 분해능(resolution)이 증가하기 때문이다. 다음 그림은 여러 전자기파의 파장을 보여 준다.
TEM의 구
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TEM의 광로를 나타내는 개략도를 나타내었는데, (a) 는 상을 얻을 때, (b) 는 전자선 회절을 얻을 때의 광로를 나타낸다. 특히 (a)의 광로는 TEM에 중간렌즈가 1개 더 존재하는 것 이외에는 광학현미경과 매우 흡사하다. 광학현미경은 유리렌즈를 TE
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현미경(SEM, TEM), X선 회절분석(XRD), 라만 분광법(Raman Spectroscopy) 등을 활용하여 소재의 구조적 특성을 평가합니다.
전기화학적 분석: 전기화학적 임피던스 분광법(EIS), 순환 전압 전류법(CV) 등을 이용하여 소재의 전기화학적 성능을 측정합니다.
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