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현미경(TEM)
투과전자현미경 에서는 고에너지를 갖는 전자선이 전자렌즈계를 거쳐 시료를 통과하여 형광판에 상을 맺게 되므로 그 시료는 극히 얇아야 된다는 것을 전제조건으로 하고 시료의 밀도, 두께등의 차이에 따른 명암(contrast)상을 얻
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현미경과는 달리 유리렌즈 대신에 자계렌즈(마그네틱 렌즈)를 이용하고, 광원은 가시광선 대신에 파장이 짧은 전자를 이용하였다. 따라서 전자현미경에서는 컬러 상을 관찰할 수 없고 흑백 상을 관찰하게 된다.
※투과형전자현미경(TEM)
대상
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현미경의 종류
1) 광학현미경
* 일반광학현미경
* 위상차현미경
* 간섭현미경
* 암시야현미경
* 편광현미경
* 형광현미경
2) 전자현미경
* 주사전자현미경(SEM)
* 투과전자현미경(TEM)
3) 원자현미경
2. 주
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현미경 (interference microscope)
ㅂ. 암시야현미경 (dark-field microscope)
(2) 전자현미경 (EM,Electron Microscope)
ㄱ. 주사형 전자 현미경 (SEM, scanning electron microscope)
ㄴ. 투과형 전자현미경 (TEM, transmission electron microscope)
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현미경은 거의 모든 분야에서 광학현미경의 영역을 커버하며 이에 분석 장비를 추가하여 분석 장비로써의 영역도 확보해 나가고 있다.
5. 참고자료
○ 투과전자현미경 - 대한금속재료학회지 1996 vol.9, NO.6 김경홍
○ http://tempark.hihome.com/tem.html
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