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□ 실험목적
□ 실험원리
● 광학현미경(LM, Light Microscope)
● 전자현미경 (EM, Electron Microscope)
● 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)
● 전자현미경의 발전역사
● 기본 원리
● TEM과 SEM의 원리
● 주사전자현미경(SEM)
● 주사
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ctional Force Microscopy)
표면에서 일어나는 화학적 변화에 의한 탐침위의 측면 힘의 변화 측정
㉡자기력 현미경(Magnetic Force Microscopy)
자성체를 입힌 탐침을 사용하여 시료의 자기적 성질을 알아내는 장치
㉢정전기력 현미경(Electrosatic Force Microscopy)
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SEM의 용도와 비교
2.4. SEM의 구조
2.5. EDS (에너지 분산형 X선 측정기: Energy Dispersive X-ray Microanalysis)를 이용한 원소 분석.
2.6. 전자빔과 고분자소재와의 상호작용
2.7. 주사전자현미경 분석을 위한 시료 준비법
3. Transmission Electron Microscopy (TEM)
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SEM과 TEM의 경우에는 contrast를 올려야하는 사전 처리가 필요하지만 AFM은 사전처리가 필요 없어서 sample을 보호하며 직접 측정할 수 있다는 장점이 있다.
4. 결론
광학 현미경은 미시 구조를 분석하는 데에 한계가 있지만 간단하며, 전자 현미경
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1. SEM이란?
Scanning Electron Microscope
1.1. SEM의 개발
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1931년 독일
Max Knoll & Ernst Ruska, 최초 전자현미경(TEM) 발명
1938년 M.V.Ardennes, 최초 주사전자현미경 개발(STEM)
1962년
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진행했습니다. 기업체의 요구사항은 주어진 열전 소재의 성능 개선 파악을 위한 나노구조의 분석이었습니다. 이를 위해 TEM, SEM 등 현장의 장비를 활용하여 미세하고 균일한 결정립 크기가 성능 개선에 주원인임을 도출했습니다. 기업에서 요
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서 어떤 실험 분석을 주도했으며, 그것이 셀 개발에 어떻게 연결될 수 있나요?
XPS, SEM-EDS, TEM 등 표면 분석과 전기화학 임피던스 분석(EIS)을 연계하여 계면 저항 원인을 분석한 경험이 있습니다. 이를 통해 소재의 미세 구조와 전지 특성 간 연
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SEM, TEM을 비롯한 고급 분석 기법을 활용한 경험이 있으며, 이를 통해 소재의 미세구조, 화학적 결합 상태, 표면 특성 등을 정밀하게 분석할 수 있는 능력을 키웠습니다. 이러한 분석 기술은 방사광 분석 기술을 활용한 첨단소재 분석에 매우 중
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SEM, TEM), X선 회절분석(XRD), 라만 분광법(Raman Spectroscopy) 등을 활용하여 소재의 구조적 특성을 평가합니다.
전기화학적 분석: 전기화학적 임피던스 분광법(EIS), 순환 전압 전류법(CV) 등을 이용하여 소재의 전기화학적 성능을 측정합니다.
4) 기대
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SEM, TEM과 같은 고급 분석 장비를 활용한 경험을 통해, 소재의 특성을 정확히 분석하고 그에 맞는 해결책을 제시하는 능력을 키웠습니다. 방사광 분석 기술을 활용하여 첨단소재 분석을 수행하는 데 필요한 분석 역량을 갖추었으며, 이를 통해
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