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주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)
기술의 진보와 함께 보다 미세 구조의 유기물, 무기물, 금속, 또는 이들의 복합체의 형상과 구조에 대한 보다 정확한 이해가 필요하게 되었다. 주사전자현미경은(SEM)은 고체 상태의 미세조직과 형상을
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Scanning Electron microscopy : 주사전자현미경)
1. 구 조
2. 전자선의 발생 원리
3. SE(Secondary Electron)와 BSE(Backscattered Eletron)의 차이와 장단점
4. 가속전압과 Image와의 관계
5. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer), WDS(Wavelengths Dispersive X-ray Spectrometer)
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제3판 / 김선희외 8인 공역 / 서울외국서적 / 2002
REPORT
-Three-dimensional model of purple membrane obtained by electron microscopy- - 전자 현미경과 회절
- 3차원의 단백질 지도
- 막의 구조
<세포막 단백질>
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전자현미경의 종류
2) 왜 전자를 사용하는가?
2. 투과전자현미경(TEM)
1) 투과전자현미경이란?
2) 가속전자와 시료의 반응
3. 주사전자현미경(SEM)
1)주사 전자 현미경이란?
2) SEM의 원리
3) SEM의 분해능(resolution)
4) 구성요소
5) 신호의 종
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(ICP-MS와 보완관계로 이용)
재료, 식품, 생체시료 및 수용액시료 중의 미량원소
무기물중의 미량 희토류 원소의 정량 Ⅰ. 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)
Ⅱ. X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
Ⅲ. 유도결합 플라즈마 분광기
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