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(ICP-MS와 보완관계로 이용)
재료, 식품, 생체시료 및 수용액시료 중의 미량원소
무기물중의 미량 희토류 원소의 정량 Ⅰ. 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)
Ⅱ. X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
Ⅲ. 유도결합 플라즈마 분광기
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회절현상(X-Ray Diffraction)
결정에 의한 회절(Diffraction)
X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
X선 회절 분석기 구성
고니오메타(Goniometer)
3. 실험재료 및 장치:
4. 실험결과
<경도측정>
<XRD 회절 데이터>
5. 토의 및 고찰
6. 참고문헌 1. 실
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재료의 조성 측정방법
1. XRD (X-ray Diffraction)
(1)X-ray 기본원리
1. X-ray란?
2. X-ray의 발생
3. 분석에 이용하는 X-ray는?
(2)Bragg’s Law
1. X-선 회절의 조건은?
2. Direction of Diffracted Beam
(3)XRD 시스템
1. XRD 구성
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
2). Goniome
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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분석센타
분석센터는 핵자기공명분광기(NMR), 전자현미경(SEM), X-선 회절분석기(XRD) 등 최첨단 정밀 분석기기와 고급 전문인력으로 연구활동을 지원하고 있다. 의약품의 화학구조 분석, 신소재 물성평가 등을 통하여 연구개발의 중간단계 평가,
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기기종류, 실험방법설정, 결정구조해석)
윤 석 준
2004313924
보고서 작성, 자료수집(조성분석, 활용분야, 예상결과)
이 정 호
2005312461
발표, 자료수집(회절이론, 정량분석, JCPDS)
김 세 희
2007311031
PPT 작성, 자료수집(강도이론, 회절분석법, 활용분
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