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stance : 1kΩ 1개
Capacitor : 0.15㎌
Bread Board
4. 실험 내용과 방법
(1) 두 삼각함수파 사이의 위상차이 측정
① 시간영역에서의 측정 : 1kΩ저항과 0.15㎌커패시터로 <회로 4-1>을 구성하고 파형발생기의 주파수를
1kHz로 맞춘다. 입력파형과 출력파
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형발생기)에 연결하여 5Vpp, 2KHz의 삼각파가 표시되도록 하고, 채널 2는 PROBE COMP에 연결해서 [그림 7-8]처럼 MEASURE 설정을 조정하여 사진과 같은 결과를 얻을 수 있었다.
3. 나의 고찰
이번 실험은 오실로스코프와 파형발생기(함수발생기)의 조작
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함수발생기를 이용한 실험들이었는데, 두 가지 실험 기구 모두 사용하는 데 익숙하지 않아 계속해서 어려움을 겪고 있다. 하지만 이번 실험을 통해서 알게 된 점은 함수발생기의 주파수를 낮추면 출력파형이 더 크게 출력된다는 것 등 이러한
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아니었을 것이고 (함수발생기가 더 정확한 값을 보여줍니다.), 각 Gate 자체의 저항도 영향을 미쳤을 것입니다. 이러한 오차를 발생시킬 수 있는 요인들을 생각한다면 실험결과는 모두 옳게 나왔다고 생각됩니다. 실험
설계 및 고찰
고찰
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(Low pass filter):
3.5.2 고역필터(High pass filter):
3.5.3 함수에서의 각각의 값들과 값의 비교
3.6 실험 후 소감
# Case 2
3.5 실험 결과
3.5.1 저역필터(Low pass filter):
3.5.2 고역필터(High pass filter):
※ RC 회로의 원리
3.6 실험 후 소감
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계산 -> 정현파 입력으로 V0파형 관찰 -> 함수 발생기의 주파수를 변화하며 출력을 비교 및 그래프 작성
#3.저항(R)=1kΩ, 콘덴서(C)=0.1㎌, 함수발생기 입력전압 ± 1.2V 구형파
-브레드보드에 RC회로를 만든다.
-함수발생기를 이용하여 ± 10V구형
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력파형을 삼각파로 한다.
▲구형파에서 정지된 파형이 나타나면 삼각파, 정현파 모두 정지된 파형이 나타난다.
6. 함수발생기의 출력파형을 구형파로 하고 level 설정을 바꾸어 가면서 그 영향을 관찰한다. slope를 양(+)으로 하고 화면의 궤적
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되었다. 구하면 115.1kHz가 측정되었다.
20kHz의 측정범위에서는 100kHz를 측정 할 수 없어서 1 . 의 오류가 나타났다.
함수발생기에서 나오는 사인파 함수발생기에서 나오는 사각파
(기계 내부적 오류로 인한 형태)
< 정전용량 측정 >
정전용량
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차
* 모든 사진을 같은 거리에서 사진을 찍지 않아서 실제 크기와 약간의 차이는 있을수 있음.
■소감 및 건의사항
이번실험은 함수발생기를 사용하여 멀티미터로 출력전압을측정하는 실험이었습니다. 함수발생기에는 정현파 및 사각파등 파
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같이 무한급수로 전개된다. x가 실수일 때 밑수 e=2.7182…이다.
4. 실험 진행 및 예상
(1) Function Generator를 사용하여 함수 발생기를 직류 오프셋(OFFSET)이 없는 1kHz의 정현파를 출력하도록 설정하라. 이때 진폭은 최소로 하라.
(2) 멀티미터를 교류
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