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합금화도 측정장치
본연구에서 사용한 합금화도 측정용 광학계는 그림 1과 같다. 광원으로 사용된 반도체 레이저는 출력 30 mW, 파장 670 nm이다. 반도체 레이저의 출력은 빔의 발산(divergence)이 있기 때문에 두 개의 렌즈(L.1과 L.2)를 이용하여 평
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420-435, 시그마프레스, 서울, (2015).
기초실험(1) 냉각 곡선에 의한 상평형도 작성 (강의자료)
[네이버 지식백과]
위키피디아 백과사전 [목차]
1.실험목적과 실험장치 및 재료
2.실험이론
3.실험방법
4.실험결과
5.고찰및 참고문헌
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측정밀도
Micrometer 측정밀도
시편 A(±0.005g의 오차)
시편 B(±0.005g의 오차)
시편 C(±0.005g의 오차)
● 부피오차에 의한 밀도의 변화도 결론
부피변화 1㎤ 당 밀도의 변화도 이므로 이것을 각 측정장치의 밀도오차로 바꾸면
Vernier Caliper 측정밀도
(±
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측정오차 외에도 다음과 같은 다른오 차가 생길 수 있다.
1. 열전대선의 취성을 야기시키고 열전기적 효과를 변화시키는 오염
2. 회로의 부적합한 연결이나 전기의 누전
3. 냉접점 온도의 부적절한 제어
4. 열전대의 설치 위치, 보호관 두께 : 열
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2. 파장대역별 영상
Ⅵ. 광학과 광학가공기술
1. 현재 사용되고 있는 광학가공기술의 특징
2. 미래형 광학가공기술의 특징
Ⅶ. 광학과 광학식모션캡쳐
Ⅷ. 광학과 광학식염도측정장치
Ⅸ. 광학과 광학식자이로
참고문헌
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