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BIST Scheme for a SNR, Gain Tracking, and Frequency Response Test of a Sigma-Delta ADC". IEEE transaction on circuit and system-Ⅱ: Analog and Digital, Processing Vol 42. NO 1. January 1995
[10] M. F. Toner and G. W. Roberts "A BIST Technique for a Frequency Response and Intermodulation Distortion Te
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bist Du?, Berlin
Regel, Gerhard/Kuhne, Thomas(2001): Arbeit im offenen Kindergarten, Freiburg
Verein zur Forderung auslandischer und deutscher Kinder e. V.(1999): Ich bin Jetzt ein Kindergartenkind, Berlin
Wagner, Irmgard(1999): Was steckt hinter den Kindergarten-Konzeptionen, in: Mein Kind im Ki
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bist herrlich und findest alles super-klasse
denn du gehorst zu einer ausgesprochen interessanten rasse
du stockelst durch dein leben wackelst kraftig mit dem popo
ich zeig jedem was ich habe ist dein groses lebensmotto
deine BIRNE ist total HOHL
absolut LEER doch das ist dir EGAL
denn du haltst dic
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Ihr lernt Deutsch.
Sie lernen Deutsch.
- lernen : 배우다
4. Sein 동사
ㆍ독일어의 be동사 → Sein 동사 (‘~이다’라고 해석)
1인칭
2인칭
3인칭
단수
ich bin ~
(나는 ~이다)
du bist ~
(너는 ~이다)
er(Sie/es) ist ~
그(그녀/그것)는 ~이다
복수
wir sind ~
(우리는 ~이다)
ih
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BIST(Built-In Self Test)
그림 2.5.4 내부 스캔 테스팅 개략도
그림 2.5.5 주사경로를 갖는 순차논리회로 모델
Boundary scan은 IEEE1149.1에 표준화 되어 있음.
그림 2.5.6 경계 주사
그림 2.5.7 BIST 기법이 사용된 ASIC Chapter 2
집적회로(VLSI)의 설계 과정
2.1
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Softwafer
4. Test Process Flow
5. Open/Short Test
6. Leakage test
7. IIL/IIH Test
8. VIL/VIH, VOL/VOH Test
9. IDDS
10. DataSheet
11. Functional Test
11-1. DFT(Design for Test)
11-2. SCAN Test
11-3. BIST(Built-in Self Test)
11-4. Boundary SCAN(JTAG)
11-5. NAND Tree Test
12. Backend Pro
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