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전류를 보내 두고, 시험하는 것의 온도를 변화시켜 보면, 더어미스터 정도는 아니지만, 온도가 높아지면 저항(LV)이 낮아진다는 것을 알 수 있다. 11. FET의 시험
12. 다이리스터의 시험
13. UJT의 시험
14. 그 밖의 반도체 소자의 시험
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다이리스터에서는 게이트 전류가 흐르면 순방향 저지 상태에서 ON 상태로 된다. 게이트 전류 를 가하여 도통완료까지의 시간을 턴온 시간이라고 한다. 시간이 길면 스위칭시의 전력손실이 많고 다이리스터 소자가 파괴될 수 있다.
⑨ 유지 전
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제1장 패션머천다이징의 개념 제3장 패션상품의 이해 제4장 패션 정보 제5장 패션 상품 기획 제6장 생산관리 제7장 패션소매업의 이해 제8장 패션바잉 제9장 영업 및 촉진 전략 - 각 장별 출제예상문제(해설포함) 총49페이지/교재 1, 3~9장 핵
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FET의 작동
1. Accumulation mode(축적모드)
- 기판전압이 금속의 게이트 전압보다 놓을 경우이다.
- 금속 쪽이 -고, 기판 쪽이 +가 되어서, 절연층 근처 P형 반도체의 전자들이 밀려나고, 그 자리에 정공이 비교적 뭉쳐서 존재하게 된다.
- 그렇게 되
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시험은 금속박판재료의 연성을 평가 또는 비교하기 위해 널리 사용되는 시험으로 두께 0.1~2.0㎜의 금속박재료를 상, 하 다이 사이에 삽입시키고, 시험편에 펀치를 넣어 시험편의 적어도 1곳에 뒷면에 이르는 균열이 생길 때까지 가압하여 펀치
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