FET의 시험,다이리스터의 시험

목차

11. FET의 시험

12. 다이리스터의 시험

13. UJT의 시험

14. 그 밖의 반도체 소자의 시험

본문내용

배리스터라 하고 후자를 다이오우드 배리스터라고 한다.
시험은 최고 저항 레인지로 하여, 도통을 조사한다. 배리스터는 시험봉을 바꿔 끼워도 저항값(지침의 움직임)은 변하지 않지만, 다이오우드 배리스터는 다르다.(일반적인 다이오우드와 같다) 그리고, 전압이 높은 배리스터는 지침의 움직임이 작지만, 다이오우드 배리스터(실리콘)은 LV가 0.6V 부근을 가리킨다.
다음에, 저항 레인지를 낮게 해 본다. 다이오우드 배리스터는 물론 순방향의 상태로 해 준다. 저항 레인지를 낮게 하면 LI가 증가하지만, 지침은 약간 되돌아간다 (LV가 높아진다).
적당한 레인지로 전류를 보내 두고, 시험하는 것의 온도를 변화시켜 보면, 더어미스터 정도는 아니지만, 온도가 높아지면 저항(LV)이 낮아진다는 것을 알 수 있다.

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FET의 시험,   다이리스터의 시험,   UJT의 시험,   그 밖의 반도체 소자의 시험