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전류를 보내 두고, 시험하는 것의 온도를 변화시켜 보면, 더어미스터 정도는 아니지만, 온도가 높아지면 저항(LV)이 낮아진다는 것을 알 수 있다. 11. FET의 시험
12. 다이리스터의 시험
13. UJT의 시험
14. 그 밖의 반도체 소자의 시험
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UJT)
(Photo TR)
이번 실험은 반도체 소자의 형명 구성을 이해하고 극성 판별 및 부품 점검, 방법 등을 알아보는 실험이었다. 반도체 소자 각각의 방법 등을 이해하고 표에 요약을 해보니 한눈에 알아볼 수 있어서 나중에 필요할 때 바로바로 찾아
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시험 단자
TTL
Transistor Transistor Logic
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TWT
Travelling Wave Tube
진행파관
UCR
Under Current Relay
부족전류계전기
UFR
Under Frequency Relay
저주파수계전기
UHF
Ultra High Frequency
극초단파
UJT
Uni-Junction Transistor
단접합 트랜지스터
ULTC
Under Load Tap Changer (OLTC)
부하시
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