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측정 방법
8. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma)
(1) ICP-MS란?
(2) 구성장치
(3) 기존 장비와의 비교
9. AAS (atomic absorption spectroscopy)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본
조성측정방법 TGA, XRD DTA, 재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS),
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FTIR에 들어가기에 앞서 적외선분광법에 대해 알아보고 넘어가겠다. IR spectroscopy는 분산형 적외선 분광광도계와 FTIR의 크게 두가지의 측정기기로 나눌 수 있는데, 분산형은 검출기에 도달하는 빛이 약하기 때문에 현재 상품화 되어있는 IR spect
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FTIR)을 coupling 하여 시료로부터 방출되는 가스를 정성분석하는 것이다. 아울러 TGA 에 DTA 를겸하고 있는 경우 weight change 는 물론 흡열(endothermic)반응과 발열(exothermic)반응을 측정할 수 있다.
열중량 분석은 휘발성 물질(수분, 용매등), 고분자, 카
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FTIR)을 coupling하여 시료로부터 방출되는 가스를 정성분석하는 것이다. 아울러 TGA에 DTA를 겸하고 있는 경우 weight change는 물론 흡열(endothermic)반응과 발열(exothermic)반응을 측정할 수 있다.
열중량 분석은 휘발성 물질(수분, 용매등), 고분자, 카본
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Ⅱ. 기기 장치
Ⅲ. 시료 취급 방법
Ⅳ. 실험시 주의 사항
2. FTIR(Fourier-Transformation Infrared)
Ⅰ. 원리
Ⅱ. 용도
Ⅲ. 기기특성
Ⅳ. FT-IR의 장점
Ⅵ. 장치의 조작방법
참고문헌
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